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申请/专利权人：高通股份有限公司
摘要：本文描述了系统和技术。例如，一种过程可包括从一个或多个传感器获得与第二传感器测量相关联的第一传感器测量数据。在一些情况下，该第一测量数据可与第一时间相关联，并且该第二传感器测量数据可与第二时间相关联，该第二时间发生在该第一时间之后。在一些方面，该过程包括确定该第一传感器测量数据和该第二传感器测量数据满足至少一个分批条件。在一些示例中，该过程包括基于确定该第一传感器测量数据和该第二传感器测量数据满足该至少一个分批条件来生成传感器测量数据批次，该传感器测量数据批次包括该第一传感器测量数据、该第二传感器测量数据和至少一个目标传感器测量数据。在示例中，该过程包括输出该传感器测量数据批次。
主权项：1.一种方法，所述方法包括：从一个或多个传感器获得与第一时间相关联的第一传感器测量数据；从所述一个或多个传感器获得与第二时间相关联的第二传感器测量数据，所述第二时间发生在所述第一时间之后；确定所述第一传感器测量数据和所述第二传感器测量数据满足至少一个分批条件；基于确定所述第一传感器测量数据和所述第二传感器测量数据满足所述至少一个分批条件来生成传感器测量数据批次，所述传感器测量数据批次包括所述第一传感器测量数据、所述第二传感器测量数据和至少一个目标传感器测量数据，所述至少一个目标传感器测量数据发生在所述第一时间与所述第二时间之间；以及输出所述传感器测量数据批次。
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百度查询： 高通股份有限公司 传感器校准方法和装置
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