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使用集成光子设备的并行光学相干断层扫描术系统 

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申请/专利权人:华盛顿大学

摘要:公开了适合于并行光学相干断层扫描的集成光子芯片和相关的系统和方法,其包括多路复用数据检测和将多路复用数据传输到DAC的单个通道或并行数据检测和将并行数据传输到多通道DAC的单独通道。

主权项:1.一种用于并行光学相干断层扫描的集成的光子芯片,所述光子芯片包括:a.光学输入端口,其被配置为从外部光源接收单个输入光束;b.多个光学输出端口,其被配置为将多个采样光束从所述芯片传输到样本,并且接收来自所述样本的多个反射采样光束;c.第一分支波导结构,其包括MZI臂、参考臂、以及样本臂,所述第一分支波导被配置为将入射的单个光束分成由所述MZI臂传输的MZI输入光束、由所述参考臂传输的参考输入光束、以及由所述样本臂传输的采样输入光束;d.MZI波导结构,其被配置为接收所述MZI输入光束,并且生成指示所述输入光束的相位的MZI干涉信号;e.多分支波导结构,其包括在基板中形成的多个互连的波导通道,所述波导通道限定分光器区域和干涉仪区域,所述分光器区域被配置为将所述样本臂的采样输入光束光学耦合到所述输出端口中的每个输出端口,所述干涉仪区域被配置为限定多个光子干涉仪,其中:i.所述分光器区域中的所述波导通道被配置为限定多个光子分光器,所述多个光子分光器将所述输入端口处接收的所述入射的单个采样光束在所述输出端口处分成所述多个采样光束;ii.所述波导通道在所述光子分光器与所述输出端口之间的部分具有不同的预定长度,以在所述多个采样光束中的每个采样光束之间产生光学时间延迟;以及iii.所述光子干涉仪被布置为接收所述参考光和从所述样本返回的多个反射光信号,所述光子干涉仪被配置并可操作为将所述反射光信号与所述参考光进行组合,以产生被发射到OCT输出端口阵列的多个OCT干涉信号;f.MZI输出端口对,其可操作地耦合到所述MZI波导结构,所述MZI端口被配置为将所述MZI干涉信号传送到至少一个平衡检测器;以及g.所述OCT输出端口阵列,其可操作地耦合到所述光子干涉仪,所述OCT输出端口阵列被配置为将所述OCT干涉信号传送到外部平衡检测器阵列。

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权利要求:

百度查询: 华盛顿大学 使用集成光子设备的并行光学相干断层扫描术系统

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