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申请/专利权人：深圳市紫光同创电子有限公司
摘要：本发明提出一种IO二级热插拔规格测试方法及系统，该方法包括：待测器件、辅助器件和比较器，待测器件的IO通过总线与辅助器件的第一IO连接，待测器件的IO通过上拉电阻与第一电源连接，待测器件的IO与比较器的第一输入端连接，比较器的第二输入端与阈值电压连接，比较器的输出端与辅助器件的第二IO连接，其中：根据测试类型，确定待测器件和辅助器件的电源状态；控制第一IO输出高电平；读取第二IO的电平；根据第二IO的电平，调整上拉电阻的阻值，重复上述步骤，直到调整后的第二IO的电平发生转变，得到上拉电阻临界值。本发明主要目的在于提供一种IO二级热插拔规格测试方法，以适应现有集成电路芯片的IO热插拔测试。
主权项：1.一种IO二级热插拔规格测试方法，其特征在于，包括待测器件、辅助器件和比较器，所述待测器件的IO通过总线与所述辅助器件的第一IO连接，所述待测器件的IO通过上拉电阻与第一电源连接，所述待测器件的IO与所述比较器的第一输入端连接，所述比较器的第二输入端与阈值电压连接，所述比较器的输出端与所述辅助器件的第二IO连接，其中：根据测试类型，确定所述待测器件和所述辅助器件的电源状态；控制所述第一IO输出高电平；读取所述第二IO的电平；根据所述第二IO的电平，调整所述上拉电阻的阻值，重复上述步骤，直到调整后的第二IO的电平发生转变，得到上拉电阻临界值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市紫光同创电子有限公司 IO二级热插拔规格测试方法及系统
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