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申请/专利权人:三星显示有限公司
摘要:公开了一种劣化补偿器。所述劣化补偿器包括:补偿因子确定器和数据补偿器,补偿因子确定器配置为基于相邻子像素之间的距离来确定补偿因子;数据补偿器配置为将补偿因子应用于应力补偿权重以生成用于补偿图像数据的补偿数据。
主权项:1.一种劣化补偿器,包含:补偿因子确定器,所述补偿因子确定器配置为基于像素的孔径比来确定补偿因子,所述像素的孔径比是基于相邻子像素之间的距离计算的;以及数据补偿器,所述数据补偿器配置为将所述补偿因子应用于应力补偿权重以生成用于补偿图像数据的补偿数据。
全文数据:劣化补偿器,具有该劣化补偿器的显示装置,以及用于补偿显示装置图像数据的方法相关申请的交叉引用本申请要求于2018年4月27日提交到韩国知识产权局的第10-2018-0049063号韩国专利申请的优先权和权益,该韩国专利申请的公开内容通过引用结合于此,如同在本文全面阐述一样。技术领域本发明的示例性实施例总体上涉及显示装置,并且更具体地,涉及劣化补偿器、具有该劣化补偿器的显示装置,以及用于补偿显示装置的图像数据的方法。背景技术在诸如有机发光显示装置的显示装置中,由于像素或有机发光二极管的劣化或退化,可能在图像上产生亮度偏差和余像。所以,通常执行图像数据的补偿以改善显示品质。由于有机发光二极管使用自发光有机荧光材料,因此可能发生材料本身的随着时间的推移而减少亮度的劣化。因此,由于亮度减少,显示面板可能具有减少的寿命。显示装置可对每个像素累积年龄数据例如,应力或退化程度以补偿劣化和余像,并基于累积的数据补偿应力。例如,可以基于每个帧的流经每个子像素的电流、发光时间等来累积应力信息。在本背景技术部分中公开的上述信息仅用于理解本发明构思的背景,因此,其可能含有不构成现有技术的信息。发明内容根据本发明的示例性实施例构造的装置能够补偿显示装置的图像数据。本发明构思的附加特征将在下面的描述中阐述,并且部分地将从描述中显而易见,或者可以通过本发明构思的实践来习得。根据示例性实施例的劣化补偿器包括:补偿因子确定器和数据补偿器,补偿因子确定器配置为基于相邻子像素之间的距离来确定补偿因子;数据补偿器配置为将补偿因子应用于应力补偿权重以生成用于补偿图像数据的补偿数据。子像素之间的距离可以是第一子像素的第一侧与面向第一子像素的第一侧的第二子像素的第二侧之间的最短距离。子像素之间的距离可以是像素限定层的宽度,像素限定层通过在第一子像素和第二子像素之间形成来限定第一子像素的第一侧和第二子像素的第二侧。第一子像素和第二子像素可以配置为发射相同颜色的光。第一子像素和第二子像素可以配置为发射不同颜色的光。随着子像素之间的距离增加,补偿因子可以减少。补偿因子确定器可以配置为使用查找表来确定补偿因子,该查找表包含子像素之间的距离与补偿因子的关系。劣化补偿器还可包括:应力转换器和存储器,应力转换器配置为累积每个对应于每个子像素的图像数据以计算应力值,并根据应力值生成应力补偿权重;存储器配置为存储应力值、应力补偿权重和补偿因子中的至少一个。根据示例性实施例的显示装置包括:显示面板、劣化补偿器和面板驱动器,显示面板包括多个像素,每个像素具有多个子像素;劣化补偿器配置为通过累积图像数据来生成应力补偿权重,并基于应力补偿权重和像素的孔径比生成补偿数据;面板驱动器配置为基于应用于补偿数据的图像数据来驱动显示面板,其中,面板驱动器配置为根据孔径比向显示面板输出相同图像数据的不同大小的数据电压。子像素可以包括具有第一侧的第一子像素和具有面向第一子像素的第一侧的第二侧的第二子像素,并且孔径比可以由第一侧和第二侧之间的距离来确定。子像素还可以包括设置在第一子像素的第一侧和第二子像素的第二侧之间的像素限定层,并且孔径比可以是像素限定层的宽度。第一子像素和第二子像素可以配置为发射相同颜色的光。第一子像素和第二子像素可以配置为发射不同颜色的光。至少一个子像素可以包括发射区域,并且孔径比可以由发射区域的第一方向上的长度来确定。至少一个子像素可以包括像素限定层和第一电极,并且发射区域可以对应于由像素限定层暴露的第一电极的一部分。至少一个子像素可以包括像素限定层和第一电极,并且可以基于由像素限定层暴露的第一电极的面积来确定孔径比。当孔径比大于预定参考孔径比时,对应于图像数据的补偿数据电压可小于孔径比补偿前的数据电压。当孔径比大于预定参考孔径比时,通过对应于图像数据的补偿数据电压流经显示面板的电流可以大于孔径比补偿前通过数据电压流经显示面板的电流。当孔径比大于预定参考孔径比时,通过对应于图像数据的补偿数据电压的显示面板的亮度可以大于由于孔径比补偿前通过数据电压的显示面板的亮度。当孔径比小于预定参考孔径比时,对应于图像数据的补偿数据电压可以大于孔径比补偿前的数据电压。当孔径比小于预定参考孔径比时,通过对应于图像数据的补偿数据电压流经显示面板的电流可小于由于孔径比补偿前的数据电压流过显示面板的电流。当孔径比小于预定参考孔径比时,通过对应于图像数据的补偿数据电压产生的显示面板的亮度可以低于通过孔径比补偿前的数据电压的显示面板的亮度。对于相同的图像数据,随着孔径比增加,数据电压的绝对值的大小可以增加。劣化补偿器可包括:补偿因子确定器和数据补偿器,补偿因子确定器配置为基于子像素的孔径比确定孔径比补偿因子;数据补偿器配置为将孔径比补偿因子应用于应力补偿权重以生成补偿数据。随着孔径比增加,孔径比补偿因子可以减少。补偿因子确定器可配置为使用包括像素的孔径比和孔径比补偿因子的关系的查找表来确定补偿因子。补偿因子确定器可配置为基于像素的孔径比和预定参考孔径比之间的差异来确定孔径比补偿因子。劣化补偿器还可包括存储器,存储器配置为存储对应于孔径比的孔径比补偿因子。根据示例性实施例的用于补偿显示装置的图像数据的方法包括以下步骤:使用光学测量计算相邻子像素之间的距离,确定与相邻子像素之间的距离对应的孔径比补偿因子,以及通过将孔径比补偿因子应用于补偿数据,根据孔径比的差异来补偿寿命曲线的偏差。子像素之间的距离可以是像素限定层的宽度,像素限定层通过在第一子像素和第二子像素之间形成来限定第一子像素的第一侧和第二子像素的第二侧,像素限定层的宽度是第一子像素的第一侧和第二子像素的第二侧之间的最短长度。随着子像素之间的距离增加,孔径比补偿因子可以减少。应理解,上述一般性描述和以下的详细描述都是示例性和说明性的,并且旨在提供对要求保护的本发明的进一步说明。附图说明包括附图以提供对本发明的进一步理解,并且附图包含在本说明书中,且构成本说明书的一部分,附图示出了本发明的示例性实施例,并且与说明书一起用于解释发明构思。图1是根据示例性实施例的显示装置的框图。图2是示意性地示出根据示例性实施例的由于像素的孔径比的差异导致的像素的寿命偏差的曲线图。图3是根据示例性实施例的劣化补偿器的框图。图4A和图4B是示出计算像素孔径比的示例的图。图5A和图5B是示出根据示例性实施例的孔径比与像素寿命之间关系的曲线图。图6A是根据示例性实施例的包括在图1的显示装置中的面板驱动器的框图。图6B是示出根据示例性实施例的根据图6A的面板驱动器操作的显示面板中的孔径比与电流之间关系的曲线图。图7是沿图4A的像素的A-A’线截取的示意性截面图。图8A是示出计算像素的孔径比的示例的图。图8B是示出计算像素的孔径比的示例的图。图9是根据示例性实施例的图3的劣化补偿器的框图。图10是示出根据示例性实施例的图9的劣化补偿器中的补偿因子确定器的操作的图。图11是示出根据示例性实施例的图9的劣化补偿器中的补偿因子确定器的操作的图。图12A和图12B是示出根据示例性实施例的进行光学测量以计算孔径比的像素的图。图13是根据示例性实施例的用于补偿显示装置的图像数据方法的流程图。具体实施例在以下描述中,出于解释的目的,阐述了许多具体细节以提供对本发明的各种实施例或实现方式的透彻理解。如本文所使用的,“实施例”和“实现方式”是可互换的词,其是采用本文公开的一个或更多个发明构思的装置或方法的非限制性示例。然而,显而易见的是,可以在没有这些具体细节的情况下或者利用一个或更多个等同布置来实现各种示例性实施例。在其他实例中,以框图形式示出了公知的结构和装置,以避免不必要地混淆各种示例性实施例。此外,各种示例性实施例可以是不同的,但不必是排他的。例如,在不脱离本发明构思的情况下,示例性实施例的具体形状、配置和特性可以在另一示例性实施例中使用或实施。除非另有说明,否则所示出的示例性实施例应理解为提供可以在实践中实现本发明构思的一些方式的不同细节的示例性特征。因此,除非另有说明,否则可以在不背离本发明构思的情况下,以其他方式组合、分离、互换和或重新布置各种实施例的特征、组件、模块、层、膜、面板、区域和或方面等以下单独地或统称为“元件”。通常在附图中使用交叉影线和或阴影来阐明相邻元件之间的边界。因此,除非另有说明,否则交叉影线或阴影的存在与否都不表示或表明对特定材料、材料特性、尺寸、比例、图示元件之间的共性和或任何其他特征、属性、特性等的任何偏好或要求。此外,在附图中,为了清楚和或描述的目的,可夸大元件的尺寸和相对尺寸。当示例性实施例可以不同地实现时,可以与所描述的顺序不同地执行具体的工艺顺序。例如,两个连续描述的过程可以基本上同时执行或者按照与所描述的顺序相反的顺序执行。而且,相同的附图标记表示相同的元件。当诸如层的元件被称为“在……上on”、“连接到connectedto”或“联接到coupledto”另一个元件或层时,它可以直接位于另一元件或层上、连接到或联接到另一个元件或层,或者可以存在中间元件或层。然而,当元件或层被称为“直接在……上directlyon”、“直接连接到directlyconnectedto”或“直接联接到directlycoupledto”另一元件或层时,不存在中间元件或层。为此,术语“连接connected”可以指物理的、电气的和或流体的连接,具有或不具有中间元件。此外,D1轴、D2轴和D3轴不限于直角坐标系的三个轴,例如x轴、y轴和z轴,并且可以在更广泛的意义上解释。例如,D1轴、D2轴和D3轴可以彼此垂直,或者可以表示彼此不垂直的不同方向。出于本公开的目的,“X、Y和Z中的至少一个”和“选自由X、Y和Z组成的集群中的至少一个”可以被解释为仅X、仅Y、Z、或者X、Y和Z中的两个或更多个的任何组合,例如XYZ、XYY、YZ和ZZ。如这里所使用的,术语“和或”包括一个或更多个相关所列项目的任何和所有组合。尽管这里可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种类型的元件,但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语用于将一个元件与另一个元件区分开。因此,在不背离本公开的教导的情况下,下面讨论的第一元件可以被称为第二元件。这里可以使用空间相对术语,例如“下面beneath”、“下方below”、“在……下面under”、“较下lower”、“上方above”、“上面upper”、“在……上方over”、“更高higher”、“侧side”例如,如“侧壁sidewall”等,以便于解释,并且由此描述附图中所示的一个元件与另一个元件的关系。除了附图中所示的方向之外,空间相对术语旨在包括使用、操作和或制造中的装置的不同方向。例如,如果图中的装置被翻转,则被描述为在其他元件或特征“下方below”或“下面beneath”的元件将被定向在其他元件或特征“上方above”。因此,示例性术语“下方below”可以包括上方和下方的方向。此外,该装置可以以其他方式定向例如,旋转90度或在其他方位,并且应当相应地解释本文使用的空间相对描述符。这里使用的术语是为了描述特定实施例的目的,而不是限制性的。如本文所使用的,除非上下文另有明确说明,否则单数形式“一a”、“一个an”和“该the”也旨在包括复数形式。此外,当在本说明书中使用时,术语“包含comprises”、“包含有comprising”、“包括includes”和或“包括有including”指定所述的特征、整体、步骤、操作、元件、组件和或集群的存在。但不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和或其集群。还应注意,如本文所使用的,术语“基本上substantially”、“约about”和其他类似术语用作近似术语而不是程度术语,并且因此用于解释本领域普通技术人员识别的测量值、计算值和或提供值的固有偏差。本文参考截面图和或分解图描述了各种示例性实施例,所述截面图和或分解图是理想化的示例性实施例和或中间结构的示意图。因此,可以预期由于例如制造技术和或公差导致的图示形状的变化。因此,本文公开的示例性实施例不应被解释为限于特定示出的区域形状,而是应包括例如由制造导致的形状偏差。以这种方式,附图中示出的区域本质上可以是示意性的,并且这些区域的形状可以不反映装置的区域的实际形状,因此,不一定旨在限制这些区域。如本领域中惯常的,在功能块、单元和或模块方面,在附图中描述和示出了一些示例性实施例。本领域技术人员将理解,这些块、单元和或模块通过电子或光学电路物理地实现,例如逻辑电路、分立组件、微处理器、硬连线电路、存储器元件、布线连接,以及可以使用基于半导体的制造技术或其他制造技术形成。在由微处理器或其他类似硬件实现的块、单元和或模块的情况下,可以使用软件例如,微代码对它们进行编程和控制,以执行本文所讨论的各种功能,并且可以可选地由固件和或软件来驱动。还预期每个块、单元和或模块可以由专用硬件实现,或者作为执行某些功能的专用硬件和处理器例如,一个或更多个编程微处理器和相关电路的组合来执行其他功能。而且,在不背离本发明构思范围的情况下,一些示例性实施例的每个块、单元和或模块可以在物理上分成两个或更多个交互和离散的块、单元和或模块。此外,在不背离本发明构思范围的情况下,一些示例性实施例的块、单元和或模块可以物理地组合成更复杂的块、单元和或模块。除非另有定义,否则本文使用的所有术语包括技术和科学术语具有与本公开所属技术领域的普通技术人员通常理解的含义相同的含义。诸如在常用词典中定义的术语应当被解释为具有与其在相关技术领域的含义一致的含义,并且不应解释为理想化或过于正式的意义,除非在文中明确定义。图1是根据示例性实施例的显示装置的框图。图2是示意性地示出根据示例性实施例的由于像素的孔径比的差异导致的像素的寿命偏差的曲线图。参考图1和图2,显示装置1000可以包括显示面板100、劣化补偿器200和面板驱动器300。显示装置1000可以包括有机发光显示装置、液晶显示装置等。显示装置1000可以包括柔性显示装置、可卷曲显示装置、弯曲显示装置、透明显示装置、镜子显示装置等。显示面板100可以包括多个像素P并显示图像。更具体地,显示面板100可以包括在多条扫描线SL1至SLn和多条数据线DL1至DLm的交叉点处形成的像素P。在一些示例性实施例中,每个像素P可包括多个子像素。每个子像素可以发射红色、绿色和蓝色光中的一种。然而,本发明构思不限于此,并且每个子像素可以发射青色、品红色、黄色等的彩色光。在一些示例性实施例中,显示面板100可以包括用于测量或计算像素P的孔径比或开口比的目标像素T_P。可以从像素P中选择目标像素T_P。例如,可以选择设置在显示面板100中心的像素P作为目标像素T_P。然而,本发明构思不限于目标像素T_P的数量、位置等。例如,可以测量或计算每个像素P的孔径比。劣化补偿器200可累积图像数据以产生应力补偿权重,并基于应力补偿权重和像素P的孔径比输出补偿数据CDATA。在一些示例性实施例中,劣化补偿器200可包括:补偿因子确定器和数据补偿器,补偿因子确定器基于相邻子像素之间的距离来确定补偿因子,数据补偿器将补偿因子应用于应力补偿权重以生成用于补偿图像数据RGB的补偿数据CDATA。补偿数据CDATA可以包括补偿因子例如,孔径比补偿因子,该补偿因子补偿应力补偿权重和孔径比差。在一些示例性实施例中,劣化补偿器200可以根据累积的图像数据RGB和或RGB’计算应力值,并根据应力值生成应力补偿权重。应力值可以包括像素P的发光时间、灰度值、亮度、温度等信息。应力值可以是通过对整个像素P的所有图像数据求和而计算的值,或者可以以包括单独像素P或像素P的集群的像素块为单位生成。具体地,应力值可以等同地应用于所有像素P或者独立地应用于每个单独像素P或像素P的集群。在一些示例性实施例中,劣化补偿器200可以实现为单独的应用处理器AP。在一些示例性实施例中,至少一部分或整个劣化补偿器200可以包括在时序控制器360中。在一些示例性实施例中,劣化补偿器200可以包括在包括数据驱动器340的集成电路IC或IC芯片中。在一些示例性实施例中,面板驱动器300可以包括扫描驱动器320、数据驱动器340和时序控制器360。扫描驱动器320可以通过扫描线SL1至SLn向显示面板100的像素P提供扫描信号。扫描驱动器320可以基于从时序控制器360接收的扫描控制信号SCS将扫描信号提供给显示面板100。数据驱动器340可以通过数据线DL1至DLm向显示面板100的像素P提供应用了补偿数据CDATA的数据信号。数据驱动器340可以基于从时序控制器360接收的数据驱动控制信号DCS将数据信号例如,数据电压提供给显示面板100。在一些示例性实施例中,数据驱动器340可以将图像数据RGB’转换为模拟数据电压,将寿命补偿数据ACDATA应用到该图像数据RGB’中。在一些示例性实施例中,数据驱动器340可以基于寿命补偿数据ACDATA,根据孔径比输出与具有不同幅度的图像数据RGB对应的数据电压。例如,当孔径比大于预定参考孔径比时,补偿数据电压的绝对值的大小可以大于补偿前的数据电压的绝对值的大小,其中孔径比未反映出来。当孔径比小于预定参考孔径比时,补偿数据电压的绝对值的大小可以小于补偿前的数据电压的绝对值的大小,孔径比未被反映到该绝对值的大小。时序控制器360可以从外部图形源等接收图像数据RGB,并控制扫描驱动器320和数据驱动器340的驱动。时序控制器360可以产生扫描控制信号SCS和数据驱动控制信号DCS。在一些示例性实施例中,时序控制器360可将补偿数据CDATA应用于图像数据RGB以生成经补偿的图像数据RGB’。可以将补偿图像数据RGB’提供给数据驱动器340。在一些示例性实施例中,时序控制器360还可以控制劣化补偿器200的操作。例如,时序控制器360可以针对每个帧将补偿后的图像数据RGB’提供给劣化补偿器200。劣化补偿器200可累积并存储经补偿的图像数据RGB’。面板驱动器300还可以包括用于产生第一电源电压ELVDD、第二电源电压ELVSS和初始化电源电压VINT以驱动显示面板100的电源。图2示出了根据像素P的孔径比的像素P或显示面板100的寿命曲线的偏差。包括在像素P中的有机发光二极管具有这样一个特性,即由于材料本身的退化,其亮度随着时间的推移而减少。因此,如图2中所示,由于亮度的减少,像素P和或显示面板100的寿命减少。可以通过像素形成过程的偏差为每个显示面板100或针对每个像素P生成孔径比的差异。像素P的孔径比可以是一个像素P的发射区域的面积与由像素限定层限定的一个像素P的总面积的比率。发射区域可以对应于由像素限定层暴露的第一电极的表面区域。像素P的孔径比影响有机发光二极管的有机发光层中的电子孔复合量以及流入有机发光二极管的电流密度。例如,随着像素P的孔径比增加,电流密度可能减少,这可能会随着时间的推移而减少像素P的寿命缩短速度。图2示出了参考孔径比AGE1的寿命曲线。参考孔径比可以是在显示面板制造过程中设定的值。当像素P的孔径比或显示面板100的孔径比由于制造工艺偏差而大于参考孔径比时,有机发光二极管的平面面积可能增加并且电流密度可能变得较低。因此,如图2的AGE2中所示,可以通过减少的电流密度来减小像素P的寿命缩短速度随时间的变化。也就是说,寿命曲线的斜率变得平缓。另外,如图2的AGE3中所示,当通过制造工艺使像素P的孔径比或显示面板100的孔径比小于参考孔径比时,可以增加寿命缩短速度。也就是说,可能会加速寿命曲线的斜率。如上所述,随着时间的推移,寿命曲线中可能会产生大的偏差,这取决于像素P的孔径比。根据示例性实施例的显示装置1000可以包括劣化补偿器200,以将反映孔径比偏差的补偿因子应用到补偿数据CDATA。因此,可以改善由于孔径比偏差引起的像素P或显示面板100之间的寿命曲线偏差,并且可以调整寿命曲线以对应于目标寿命曲线。另外,可以促进基于亮度下降的余像补偿或劣化补偿算法的应用。图3是根据示例性实施例的劣化补偿器的框图。参考图3,劣化补偿器200可以包括补偿因子确定器220和数据补偿器240。补偿因子确定器220可以基于像素的孔径比ORD确定补偿因子CDF。补偿因子CDF可以是孔径比补偿因子CDF。更具体地,孔径比补偿因子CDF可以是用于改善图2的寿命曲线偏差的补偿值。在一些示例性实施例中,可以基于子像素的发射区域的面积或其在预定方向上的长度来计算孔径比ORD数据。这里,发射区域可以对应于由像素限定层暴露的子像素的第一电极的表面。当孔径比ORD基本上等于参考孔径比或落入预定误差范围内时,孔径比补偿因子CDF可以设定为1。当孔径比ORD小于参考孔径比时,孔径比补偿因子CDF可以设定为小于1的值。此外,当孔径比ORD大于参考孔径比时,孔径比补偿因子CDF可以设定为大于1的值。这里,孔径比补偿因子CDF随着孔径比ORD增加而减小。在一些示例性实施例中,补偿因子确定器220可以使用查找表或函数来确定孔径比补偿因子CDF,其中,设定了孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF之间的关系。数据补偿器240可以将孔径比补偿因子CDF应用于应力补偿权重,以生成用于补偿图像数据的补偿数据CDATA。可以根据从累积图像数据提取的应力值来计算应力补偿权重。应力值可以包括累积亮度、累积发光时间、温度信息等。如上所述,根据示例性实施例的劣化补偿器200可以应用孔径比补偿因子CDF以补偿孔径比偏差到补偿数据CDATA,使得显示面板100或像素P的寿命曲线可以向目标寿命曲线移动,以使寿命曲线的偏差均匀。图4A和图4B是示出计算像素孔径比的示例的图。图5A和图5B是示出孔径比与像素寿命之间关系的曲线图。参考图3至图5B,由于制造工艺变化,像素PX1和PX2的孔径比ORD可以与参考孔径比不同。显示面板可以包括多个像素PX1和PX2。在一些示例性实施例中,像素PX1和PX2中的每一个可包括第一、第二和第三子像素SP1、SP2和SP3。例如,第一至第三子像素SP1、SP2和SP3可以分别发射红光、绿光和蓝光中的一种。这里,第一至第三子像素SP1、SP2和SP3中的每一个可以分别表示第一至第三子像素SP1、SP2和SP3的发射区域。孔径比ORD可与像素移位无关。此外,假设由于工艺特性,子像素10的发射区域在上、下、左和右方向上以基本均匀的比率放大或缩小。因此,在一些示例性实施例中,如图4A和4B中所示,可以基于相邻子像素之间的距离ND来计算孔径比ORD。例如,可以设定对应于参考孔径比的参考距离RND,并且可以根据实际测量或计算的子像素之间的距离ND与参考距离RND的比率来计算实际孔径比ORD。也就是说,可以通过以均匀比率放大缩小发射区域来从子像素之间的距离ND导出发射区域的面积,并且可以从发射区域的导出面积来计算实际孔径比ORD。如图4A中所示,像素的实际孔径比可以小于参考孔径比。也就是说,实际子像素SP1、SP2和SP3可以形成为小于对应于参考孔径比的参考子像素RSP1、RSP2和RSP3。在一些示例性实施例中,子像素之间的距离ND可以由第一方向DR1中的第一子像素10的第一侧与第二子像素11的第二侧之间的距离来确定。第一子像素10的第一侧和第二子像素11的第二侧可以彼此相邻。例如,子像素之间的距离ND可以对应于设置在第一子像素10和第二子像素11之间的像素限定层的宽度。这里,第一子像素10和第二子像素11可以发射相同颜色的光。例如,第一子像素10和第二子像素11都可以是发射蓝色光的蓝色子像素。然而,本发明构思不限于此,并且可以改变计算子像素之间的距离ND的位置。根据示例性实施例,子像素10和11之间的距离ND可以大于参考距离RND,如图4B中所示。参考图4B,像素的实际孔径比可以大于参考孔径比。也就是说,实际的子像素10'和11'可以形成为大于与参考孔径比对应的参考子像素RSP1、RSP2和RSP3。因此,子像素10'和11'之间的距离ND可以小于参考距离RND。在一些示例性实施例中,子像素之间的距离ND可以是第一子像素10'的第一侧与第二子像素11'的第二侧之间的距离。第一子像素10的第一侧和第二子像素11的第二侧可以彼此相邻。例如,子像素10'和11'之间的距离ND可以对应于设置在第一子像素10'和第二子像素11'之间的像素限定层的宽度。图5A示出了像素限定层的宽度与亮度寿命或亮度寿命luminancelifetime之间的关系。亮度寿命表示对于相同图像数据显示的亮度级别减少的程度。也就是说,随着像素限定层的宽度增加,亮度寿命可能减少。图5B示出了像素的孔径比ORD与亮度寿命之间的关系。由于像素限定层的宽度和像素的孔径比ORD具有反比关系,因此随着像素的孔径比ORD增加,亮度寿命可能增加。根据示例性实施例的劣化补偿器可以生成孔径比补偿因子,以改变或移动具有过大孔径比ORD的像素或显示面板在降低亮度寿命方向上的寿命曲线,并且生成孔径比补偿因子,以在用于增加具有过小孔径比ORD的像素的亮度寿命的方向上改变或移动寿命曲线的方向。因此,可以改善由于孔径比ORD偏差引起的寿命偏差。图6A是示出根据示例性实施例的包括在图1显示装置中的面板驱动器的框图。图6B是示出根据图6A的面板驱动器操作的孔径比与显示面板中的电流之间关系的曲线图。参考图1、图6A和图6B,面板驱动器300可以通过将补偿数据CDATA反映到图像数据RGB来驱动显示面板100。在一些示例性实施例中,面板驱动器300可以包括图1的扫描驱动器320、数据驱动器340和时序控制器360。面板驱动器300可以根据孔径比ORD输出与具有不同幅度的图像数据RGB对应的数据电压VDATA。具体地,可以通过将补偿数据CDATA应用于从外部图形源等接收的图像数据RGB来调整数据电压VDATA的大小。图像数据RGB和补偿数据CDATA可以是数字格式的数据,并且面板驱动器300可以将数字格式补偿图像数据在图1中表示为RGB’转换为模拟格式数据电压VDATA。例如,包括在面板驱动器300中的数据驱动器340可以通过数据线DL1至DLm将数据电压VDATA提供给显示面板100。可以根据孔径比ORD改变在相同图像数据RGB例如,相同图像上提供给面板驱动器300的数据电压VDATA。可以基于在劣化补偿器图1中的200中生成的孔径比补偿因子来补偿数据电压VDATA。例如,对于相同的图像数据RGB,补偿数据电压VDATA的绝对值的大小可以随着孔径比ORD的增加而增加。类似地,对于相同的图像数据RGB,随着孔径比ORD增加,显示面板100的显示面板电流PI和或亮度PL可以增加。在一些示例性实施例中,当孔径比ORD大于预定参考孔径比时,对应于图像数据RGB的补偿数据电压VDATA可小于孔径比补偿前的数据电压。例如,当包括在显示面板100中的像素P的驱动晶体管是p-沟道金属氧化物半导体PMOS晶体管时,数据电压可以是负电压。在这种情况下,随着数据电压减少,像素P的驱动电流可以增加。也就是说,随着数据电压降低,显示面板100的亮度PL或显示面板电流PI可以增加。在一些示例性实施例中,对于相同的图像数据RGB,随着孔径比ORD增加,在劣化补偿器中产生的孔径比补偿因子可以变得更大。补偿数据电压VDATA的大小可以对应于孔径比补偿因子的增加而降低。然而,本发明构思不限于此。例如,像素P的驱动晶体管可以是n-沟道金属氧化物半导体NMOS晶体管,其中数据电压可以设定为正电压。这样,像素P的驱动电流可以随着数据电压的大小增加而增加。在一些示例性实施例中,当孔径比ORD大于参考孔径比时,对应于图像数据RGB的补偿数据电压VDATA所产生的显示面板100中的显示面板电流PI,可以大于显示面板100中孔径比补偿前的数据电压产生的电流。因此,通过增加补偿数据电压VDATA,可以将具有大于参考孔径比的孔径比ORD的显示面板100或像素P的劣化速度加速到具有参考孔径比的显示面板的劣化速度。因此,寿命曲线可以向与参考孔径比对应的寿命曲线偏移。也就是说,可以改善由于孔径比偏差引起的寿命曲线的偏差。这里,显示面板电流PI可以是显示面板100的平均电流、在预定像素P处检测的电流或者连接到像素P的电源线的电流。然而,本发明构思不限于此。当孔径比ORD大于参考孔径比时,对应于图像数据RGB的补偿数据电压VDATA所产生的显示面板100的亮度PL,可以大于由反映孔径比ORD补偿前的数据电压产生的显示面板100的亮度。因此,显示面板100的劣化速度退化速度可以加速到具有参考孔径比的显示面板的劣化速度退化速度。在一些示例性实施例中,当孔径比ORD小于参考孔径比时,对应于图像数据RGB的补偿数据电压VDATA可以大于孔径比补偿前的数据电压。另外,随着数据电压增加,像素P的驱动电流可以减少。也就是说,随着数据电压减少,显示面板100的亮度PL或显示面板电流PI可以增加。更具体地,当孔径比ORD小于参考孔径比时,由与图像数据RGB相对应的补偿数据电压VDATA所产生的显示面板电流PI,可以小于孔径比补偿前的显示面板电流PI。另外,当孔径比ORD小于参考孔径比时,显示面板100的亮度PL对应于图像数据RGB的补偿数据电压VDATA,可能小于反映孔径比ORD的补偿前的显示面板100的亮度PL。因此,具有小于参考孔径比的孔径比ORD的显示面板100的劣化速度可以降至具有参考孔径比的显示面板的劣化速度水平。因此,可以改善由于孔径比ORD偏差引起的寿命曲线的偏差。如图6B中所示,对于相同的图像数据RGB,随着显示面板100或像素P的孔径比ORD增加,补偿数据电压VDATA的绝对值的大小和或显示面板电流PI可以增加。在一些示例性实施例中,显示面板100或像素P的孔径比ORD越大,显示面板100的亮度PL可以越大。图7是沿图4A的像素的A-A’线截取的示意性截面图。参考图4A和图7,显示面板可以包括多个像素PX1和PX2。像素PX1和PX2中的每一个可以被划分为发射区域EA和外围区域NEA。显示面板可以包括基板1、包括用于驱动像素PX1和PX2的至少一个晶体管TFT的下部结构,以及发光结构。基板1可以是刚性基板或柔性基板。刚性基板可包括玻璃基板、石英基板、玻璃陶瓷基板和结晶玻璃基板。柔性基板可包括膜基板,该膜基板包括聚合物有机材料和塑料基板。缓冲层2可以设置在基板1上。缓冲层2可以防止杂质扩散到晶体管TFT中。缓冲层2可以作为单层提供,但也可以作为至少两层或更多层提供。包括晶体管TFT和多条导线的下部结构可以设置在缓冲层2上。在一些示例性实施例中,有源图案ACT可以设置在缓冲层2上。有源图案ACT可以由半导体材料形成。例如,有源图案ACT可以包括多晶硅、非晶硅、氧化物半导体等。栅极绝缘层3可以设置在提供有有源图案ACT的缓冲层2上。栅极绝缘层3可以是包括无机材料的无机绝缘层。栅电极GE可以设置在栅极绝缘层3上,并且第一绝缘层4可以设置在设有栅电极GE的栅极绝缘层3上。源电极SE和漏电极DE可以设置在第一绝缘层3上。源电极SE和漏电极DE可以通过穿透栅极绝缘层3和第一绝缘层3而连接到有源图案ACT。第二绝缘层5可以设置在第一绝缘层3上,源电极SE和漏电极DE设置在第一绝缘层3上。第二绝缘层5可以是平坦化层。发光结构OLED可以包括第一电极E1、发光层EL和第二电极E2。发光结构OLED的第一电极E1可以设置在第二绝缘层5上。在一些示例性实施例中,第一电极E1可以用作发光结构OLED的阳极电极。第一电极E1可以通过穿透第二绝缘层5的接触孔连接到晶体管TFT的漏电极DE。第一电极E1可以针对每个子像素被图案化。第一电极E1可以设置在第二绝缘层5上的外围区域NEA的一部分和发射区域EA中。可以使用金属、该金属的合金、金属氮化物、导电金属氧化物、透明导电材料等形成第一电极E1。它们可以单独使用,也可以相互组合使用。像素限定层PDL可以设置在第二绝缘层5上的外围区域NEA中。像素限定层PDL可以暴露第一电极E1的一部分。像素限定层PDL可以由有机材料或无机材料形成。像素PX1和PX2中的每一个发射区域EA可以由像素限定层PDL限定。发光层EL可以设置在由像素限定层PDL暴露的第一电极E1上。发光层EL可以设置为沿着像素限定层PDL的侧壁延伸。在一些示例性实施例中,可以使用依据像素发射不同颜色的光例如,红光、绿光、蓝光等的有机发光材料中的至少一种来形成发光层EL。第二电极E2可以共同设置在像素限定层PDL和有机发光层EL上。在一些示例性实施例中,第二电极E2可以提供为发光结构OLED的阴极电极。可以使用金属、合金、金属氮化物、导电金属氧化物、透明导电材料等形成第二电极E2。它们可以单独使用,也可以相互组合使用。因此,可以形成包括第一电极E1、有机发光层EL和第二电极E2的发光结构OLED。覆盖第二电极E2的薄膜封装层6可以设置在第二电极E2上。薄膜封装层6可以包括覆盖发光结构OLED的多个绝缘层。例如,薄膜封装层6可以具有其中无机层和有机层交替堆叠的结构。在一些示例性实施例中,薄膜封装层6可以是封装基板,其设置在发光结构OLED上并通过密封剂结合到基板1。如上所述,通过像素限定层PDL暴露第一电极E1的区域可以被限定为发射区域EA,像素限定层PDL所位于的区域可以被限定为外围区域NEA。也就是说,像素限定层PDL可以限定彼此相邻的子像素的边。如图4A和图4B中所示,可以根据设置在相邻子像素之间的像素限定层PDL的宽度PW或最短宽度来计算像素的孔径比。然而,本发明构思不限于此,并且可以改变孔径比计算方法。例如,可以根据预定子像素的发射区域EA的预定方向上的长度来计算像素的孔径比。在一些示例性实施例中,可以根据通过光学成像到目标像素所获得的数据来计算像素限定层PDL的宽度或发射区域EA的长度。图8A是示出计算像素的孔径比的示例的图。参考图7和图8A,外围区域NEA中的子像素之间的距离ND、ND1、ND2、ND3和ND4中的至少一个和或在一个方向上的发射区域EA的距离ED1至ED4中的至少一个可以定义为像素的孔径比ORD。在一些示例性实施例中,可以基于包括在子像素R、G和B中的至少一个中的第一电极E1的暴露部分的面积来确定孔径比ORD。例如,可以光学地计算第一电极E1的暴露部分的面积,并且可以将计算值与预定参考区域进行比较以确定孔径比ORD。图8A中所示的子像素R、G和B可以分别对应于子像素R、G和B的发射区域EA。在一些示例性实施例中,发射区域EA可以对应于由像素限定层PDL暴露的第一电极E1的表面。子像素R、G和B可以包括红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B。在一些示例性实施例中,蓝色子像素B可以布置在第一方向DR1上形成第一像素列。红色子像素R和绿色子像素G可以在第一方向DR1上交替布置以形成第二像素列。第一像素列和第二像素列可以在第二方向DR2上交替布置。每个像素列可以连接到数据线。然而,本发明构思不限于像素的特定布置。在一些示例性实施例中,可以基于相邻子像素之间的距离来确定孔径比ORD。由于假设子像素的发射区域EA在垂直方向和水平方向上以基本均匀的比率放大或缩小,因此可以将子像素之间的距离确定为孔径比ORD。在一些示例性实施例中,可以通过将相邻子像素之间的距离应用于面积计算算法来确定孔径比ORD。在一些示例性实施例中,可以基于蓝色子像素B的一侧与第一方向DR1上与其相邻的另一蓝色子像素B的一侧之间的距离ND来确定孔径比ORD。可以将彼此相邻的蓝色子像素B之间的距离ND确定为孔径比ORD,或者可以将转换自相邻的蓝色子像素B之间的距离ND的区域数据确定为孔径比ORD。如图8A中所示,在子像素R、G和B中,蓝色子像素B之间的距离可以是最大的。因此,例如可以相对于蓝色子像素B提取距离,并且确定孔径比偏差。然而,本发明构思不限于确定孔径比ORD的特定方法。在一些示例性实施例中,可以基于在第二方向DR2和或在第一方向DR1上彼此相邻的子像素之间的距离来确定孔径比ORD。例如,可以基于第二方向DR2上的相邻红色子像素R之间的距离ND1、第二方向DR2上的相邻蓝色子像素B和红色子像素R之间的距离ND2、第二方向DR2上的相邻蓝色子像素B与绿色子像素G之间的距离ND4以及第一方向DR1上的相邻红色子像素R与绿色子像素G之间的距离ND3中的至少一个来确定孔径比ORD。可选地,可以基于蓝色子像素B和与蓝色子像素B的一侧相邻的红色子像素R之间的距离以及蓝色子像素B与蓝色子像素B的相对侧相邻的其他红色子像素之间的距离的组合来确定孔径比ORD。子像素之间的距离ND、ND1、ND2、ND3和ND4中的每一个可以对应于在相邻子像素之间形成的像素限定层PDL的宽度PW参见图7。在一些示例性实施例中,可以基于子像素R、G和B的至少一个发射区域EA的预定方向上的长度来确定像素的孔径比ORD。例如,孔径比ORD可以根据第一方向DR1上的红色子像素R的发射区域的长度ED1和第二方向DR2上的红色子像素R的发射区域的长度ED2中的至少一个来确定。由于蓝色子像素B和绿色子像素G的孔径比偏差可以与工艺特性方面的红色子像素R的孔径比偏差基本相同,因此,可以根据红色子像素R的孔径比确定像素的孔径比ORD。然而,本发明构思不限于此,并且可以通过计算每个子像素R、G和B的发射区域的面积来确定像素的孔径比ORD。可选地,例如,可以根据蓝色子像素B的发射区域在第一方向DR1的长度ED4和或蓝色子像素B的发射区域在第二方向DR2的长度ED4来确定像素的孔径比ORD。在一些示例性实施例中,可以根据绿色子像素G的发射区域在第一方向DR1和或第二方向DR2上的长度来确定像素的孔径比ORD。子像素之间的距离和发射区域的长度可以单独使用或组合使用以确定孔径比ORD。如上所述,可以基于根据相邻子像素之间的距离和或子像素的发射区域的长度面积计算得出的孔径比ORD来确定孔径比补偿因子。图8B是示出计算像素孔径比的示例的图。参考图7和图8B,外围区域NEA中的子像素之间的距离ND、ND1、ND2、ND3和ND4中的至少一个和或发射区域EA在一个方向上的距离ED1至ED4中的至少一个可以定义为像素的孔径比ORD。图8B中示出的子像素R、G和B可以分别对应于子像素R、G和B的发射区域EA。在一些示例性实施例中,发射区域EA可以对应于由像素限定层PDL暴露的第一电极E1的表面。子像素R、G和B可以包括红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B。在一些示例性实施例中,绿色子像素G可以布置在第一方向DR1上形成第一像素列。红色子像素R和蓝色子像素B可以在第一方向DR1上交替布置以形成第二像素列。第一像素列和第二像素列可以在第二方向DR2上交替布置。每个像素列可以连接到数据线。而且,在像素列的布置中,对应于相同行的红色子像素R和蓝色子像素B可以在第二方向DR2上交替布置。这些像素的排列可以定义为RGB菱形排列结构。在一些示例性实施例中,可以基于相邻子像素之间的距离来确定孔径比ORD。由于假设子像素的发射区域EA在垂直方向和水平方向上以基本均匀的比率放大或缩小,因此可以将子像素之间的距离确定为孔径比ORD。在一些示例性实施例中,可以基于红色子像素R的一侧与第一方向DR1上与其相邻的蓝色子像素B的一侧之间的距离ND1来确定孔径比ORD。这里,距离ND1可以是红色子像素R和蓝色子像素B之间在第一方向上的最短距离。或者,可以基于相邻子像素R、G和B之间的距离ND2、ND3、ND4和ND5中的至少一个来确定孔径比ORD。子像素之间的距离ND1、ND2、ND3、ND4和ND5可以单独使用或组合使用以确定孔径比ORD。在一些示例性实施例中,可以基于子像素R、G、B的发射区域EA中的至少一个的预定方向上的长度来确定像素的孔径比ORD。例如,蓝色子像素B的孔径比可以基于蓝色子像素B的发射区域的第二方向DR2上的长度ED1和或在垂直于蓝色子像素B的一侧的方向上的发射区域的长度ED2导出。考虑到工艺特性,红色和绿色子像素R和B的孔径比偏差可以与视图中的蓝色子像素B的孔径比偏差基本相同。因此,包括红色、绿色和蓝色子像素R、G和B在内的像素的孔径比ORD可以通过蓝色子像素B的孔径比来确定。然而,本发明构思不限于此,可以通过计算每个子像素R、G和B的发射区域EA的面积来确定像素的孔径比ORD。可选地,例如,可以基于红色子像素R的发射区域的预定方向上的长度ED3和或绿色子像素G的发射区域的预定方向上的长度来确定像素的孔径比ORD。以这种方式,可以基于根据相邻子像素之间的距离和或子像素的发射区域的长度面积计算的孔径比ORD来确定孔径比补偿因子。图9是示出根据示例性实施例的图3的劣化补偿器的框图。除了应力转换器和存储器的结构之外,图9的劣化补偿器可以与参考图3说明的劣化补偿器基本相同。因此,相同的附图标记将用于表示与图3的部件相同或相似的部件,并且将省略对基本相同的元件的重复描述以避免冗余。参考图3和图9,劣化补偿器200可以包括补偿因子确定器220、应力转换器230、数据补偿器240和存储器260。劣化补偿器200可以累积图像数据RGBRGB’以生成应力补偿权重SCW,并基于应力补偿权重SCW生成补偿数据CDATA。补偿因子确定器220可以基于像素的孔径比ORD确定孔径比补偿因子CDF。在一些示例性实施例中,随着孔径比ORD增加,孔径比补偿因子CDF可以降低。在一些示例性实施例中,补偿因子确定器220可以使用查找表或函数来确定孔径比补偿因子CDF,其中设定了孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF之间的关系。补偿因子确定器220可以将孔径比补偿因子CDF提供给数据补偿器240。应力转换器230可以基于与每个子像素对应的图像数据RGB计算应力值。可以将由于图像数据RGB的累积引起的亮度下降计算为应力值。作为图像数据RGB的累积的结果,可以基于诸如亮度或累积的灰度值、总发光时间、显示面板温度等信息来确定这样的应力值。例如,应力值可以具有与图1的寿命曲线基本相似的形状。也就是说,随着发光时间的累积,应力值可以增加例如,剩余寿命和亮度降低。应力转换器230可以根据应力值计算应力补偿权重SCW。例如,当亮度下降到初始状态的90%时,即,当应力值为0.9时,应力转换器230可以将SCW计算为1.111例如,10.90作为应力补偿权重SCW。同时,应力转换器230可将每帧的累积应力值存储在存储器260中,从存储器260接收累积应力值,并更新应力值。在一些示例性实施例中,存储器260可以存储应力补偿权重SCW,并且应力转换器230可以将应力补偿权重SCW发送和接收到存储器260。在一些示例性实施例中,存储器260可以包括与孔径比ORD对应的孔径比补偿因子CDF。在这种情况下,补偿因子确定器220可以从存储器260接收与孔径比ORD对应的孔径比补偿因子CDF。数据补偿器240可以通过将孔径比补偿因子CDF应用于应力补偿权重SCW来生成用于补偿图像数据RGB的补偿数据CDATA。例如,数据补偿器240可以将应力补偿权重SCW乘以或增加孔径比补偿因子CDF,以生成补偿数据CDATA。例如,当孔径比ORD大于参考孔径比时,孔径比补偿因子CDF可以具有小于1的值,可以降低补偿数据CDATA。另一方面,当孔径比ORD小于参考孔径比时,孔径比补偿因子CDF可以具有大于1的值,可以增加补偿数据CDATA。以这种方式,可以将反映孔径比ORD的孔径比补偿因子CDF另外应用于反映寿命曲线的补偿数据CDATA。因此,可以改善像素相对于相同图像数据的电流密度偏差,并且可以均匀地改善寿命曲线的偏差。图10是示出根据示例性实施例的图9的劣化补偿器中的补偿因子确定器操作的图。图11是示出根据示例性实施例的图9的劣化补偿器中的补偿因子确定器操作的图。参考图9至图11,补偿因子确定器220可以基于孔径比ORD生成孔径比补偿因子CDF。在一些示例性实施例中,如图10中所示,补偿因子确定器220可以使用查找表LUT确定孔径比补偿因子CDF,其中设定了孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF之间的关系。例如,孔径比ORD可以是相邻子像素之间的距离。可选地,孔径比ORD可以是通过将相邻子像素之间的距离转换为相对于参考距离的值而获得的值。仍然可选地,孔径比ORD也可以是使用应用了子像素之间距离的面积计算算法计算的面积值。通过工艺分散,孔径比ORD可以具有由工艺偏差导致的最小开口比OR_min和最大开口比OR_MAX之间的值。随着孔径比ORD在最小孔径比OR_min和最大孔径比OR_MAX之间增加,孔径比补偿因子CDF可以减小。当计算的孔径比ORD对应于参考孔径比RORD时,孔径比补偿因子CDF可以确定为1。当计算的孔径比ORD小于参考孔径比RORD时,孔径比补偿因子CDF可以确定为大于1的值。在这种情况下,可以在用于提高亮度的方向上补偿图像数据。因此,寿命曲线可以向参考开口比RORD的寿命曲线移动。当计算的孔径比ORD大于参考孔径比RORD时,孔径比补偿因子CDF可以确定为小于1的值。在这种情况下,可以在用于降低亮度的方向上补偿图像数据。因此,寿命曲线可以向参考开口比RORD的寿命曲线移动。当使用查找表LUT确定孔径比补偿因子CDF时,可以快速输出孔径比补偿因子CDF。如图11中所示,补偿因子确定器220可以使用函数F1、F2和F3中的一个来确定孔径比补偿因子CDF,其中设定了孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF之间的关系。在一些示例性实施例中,孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF的关系函数可以在最小孔径比OR_min和最大孔径比OR_MAX之间的范围内具有二次函数或指数函数形式表示为F1。在一些示例性实施例中,孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF的关系函数可以具有线性函数形式F2。在一些示例性实施例中,孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF的关系函数可以具有阶梯函数形式F3。然而,本发明构思不限于此,并且可以不同地设定孔径比ORD和孔径比补偿因子CDF之间的关系以最小化寿命曲线偏差。因此,改善了像素相对于相同图像数据的电流密度偏差,并且可以均匀地改善取决于孔径比的寿命曲线偏差。图12A和图12B是示出根据实施例的进行光学测量以计算孔径比的像素的图。参考图1、图12A和图12B,显示面板100和101可以包括用于测量或计算孔径比的目标像素T_P。目标像素T_P可以是从多个像素P中选择的一个或更多个像素。一些示例性实施例中,可以通过光学测量仪器等计算目标像素T_P的图像。可以通过目标像素T_P的图像分析来计算孔径比。例如,可以根据目标像素T_P中包括的子像素之间的距离或者所选择的一个子像素的发射区域的一个方向上的长度来计算孔径比。在一些示例性实施例中,如图12A中所示,显示面板100可以包括预定的多个目标像素T_P,并且可以测量或计算每个目标像素T_P中的孔径比。在一个示例性实施例中,可以生成对应于每个目标像素T_P的孔径比的补偿数据。例如,目标像素T_P的孔径比可以彼此不同,并且可以针对每个像素单独地确定孔径比补偿因子。在一些示例性实施例中,对应于目标像素T_P的孔径比平均值的孔径比补偿因子可以应用于整个图像数据。因此,相同的孔径比补偿因子可以应用于整个显示面板100。在一些示例性实施例中,如图12B中所示,显示面板101可以包括用于孔径比测量的虚拟像素T-DP。虚拟像素T-DP可以设置在显示面板101的外部,以便不影响图像显示。可以基于虚拟像素T-DP的孔径比将相同的孔径比补偿因子应用于整个显示面板101例如,整个图像数据。图13是根据实施例的用于补偿显示装置的图像数据的方法的流程图。参考图13,用于补偿显示装置的图像数据的方法可以包括在S100处使用光学测量计算相邻子像素之间的距离,在S200处确定对应于相邻子像素之间的距离的孔径比补偿因子,以及通过在S300处将孔径比补偿因子应用于补偿数据,根据孔径比的差来补偿寿命曲线的偏差。在一些示例性实施例中,可以使用S100处的光学测量来计算相邻子像素之间的距离。可以根据子像素之间的距离来预测像素的孔径比。然而,本发明构思不限于特定的孔径比计算方法。例如,可以根据至少一个子像素的发射区域的一个方向上的长度来确定像素的孔径比。可以在S200处确定对应于子像素之间的距离或计算的孔径比的孔径比补偿因子。可以根据孔径比和流经像素的电流之间的实验导出的关系来确定孔径比补偿因子。例如,具有不同孔径比的像素或显示面板长时间以全白最大灰度级发光,并且计算由此导出的寿命曲线的偏差,以根据孔径比设定孔径比补偿因子。在一些示例性实施例中,孔径比补偿因子可以以查找表的形式存储,或者可以从实现孔径比和孔径比补偿因子之间的关系函数的任何硬件配置中输出。通过将孔径比补偿因子应用于输入图像数据,可以在S300处补偿取决于孔径比差异的寿命曲线的偏差。在一些示例性实施例中,可以将用于补偿因使用而亮度下降的应力补偿权重应用于图像数据。因此,可以根据孔径比调整对应于图像数据的数据电压的大小。可以将孔径比补偿因子附加应用于图像数据,使得可以补偿由于孔径比偏差引起的寿命曲线偏差。由于确定孔径比补偿因子的具体方法和补偿图像数据的方法在上面参考图1至图12B描述,因此将省略其重复描述以避免冗余。如上所述,根据示例性实施例的显示装置和用于补偿其图像数据的方法可以将补偿孔径比偏差的孔径比补偿因子应用到补偿数据,从而可以均匀地改善寿命偏差,并且寿命曲线可以调整到对应于目标寿命曲线。另外,可以促进基于亮度下降的余像补偿劣化补偿算法的应用。本文描述的发明构思可以应用于任何显示装置和包括显示装置的任何系统。例如,本发明构思可以应用于电视机、计算机显示屏、膝上型电脑、数码相机、蜂窝电话、智能电话、智能平板、个人数字助理PDA、便携式多媒体播放器PMP、MP3播放器、导航系统、游戏机、视频电话等。本发明构思也可以应用于可穿戴设备。根据示例性实施例,劣化补偿器可以根据相邻子像素之间的距离来计算补偿因子。另外,根据示例性实施例的显示装置可通过将孔径比补偿因子应用于补偿数据来补偿图像数据。示例性实施例还提供了一种通过计算孔径比补偿因子来补偿显示装置的图像数据的方法。尽管本文已经描述了某些实施例和实现方式,但是通过本描述,其他实施例和修改将是显而易见的。因此,本发明构思不限于这些实施例,而是限于所附权利要求书的更宽范围以及对于本领域普通技术人员显而易见的各种明显的修改和等同布置。
权利要求:1.一种劣化补偿器,包含:补偿因子确定器,所述补偿因子确定器配置为基于相邻子像素之间的距离来确定补偿因子;以及数据补偿器,所述数据补偿器配置为将所述补偿因子应用于应力补偿权重以生成用于补偿图像数据的补偿数据。2.根据权利要求1所述的劣化补偿器,其中,所述子像素之间的距离是第一子像素的第一侧与面向所述第一子像素的所述第一侧的第二子像素的第二侧之间的最短距离。3.根据权利要求2所述的劣化补偿器,其中,所述子像素之间的距离为像素限定层的宽度,所述像素限定层通过在所述第一子像素和所述第二子像素之间形成来限定所述第一子像素的所述第一侧和所述第二子像素的所述第二侧。4.根据权利要求2所述的劣化补偿器,其中,所述第一子像素和所述第二子像素配置为发射相同颜色的光。5.根据权利要求2所述的劣化补偿器,其中,所述第一子像素和所述第二子像素配置为发射不同颜色的光。6.根据权利要求1所述的劣化补偿器,其中,所述补偿因子随着所述子像素之间的距离增加而减少。7.根据权利要求6所述的劣化补偿器,其特征在于,所述补偿因子确定器配置为使用查找表来确定所述补偿因子,所述查找表包含所述子像素之间的距离与所述补偿因子的关系。8.根据权利要求1所述的劣化补偿器,还包含:应力转换器,所述应力转换器配置为用于累积图像数据,每个所述图像数据对应于每个子像素,以计算应力值,并根据所述应力值生成所述应力补偿权重;以及存储器,所述存储器配置为存储所述应力值、所述应力补偿权重和所述补偿因子中的至少一个。9.一种显示装置,包含:显示面板,所述显示面板包括多个像素,每个所述像素具有多个子像素;劣化补偿器,所述劣化补偿器配置为通过累积图像数据来生成应力补偿权重,并基于所述应力补偿权重和所述像素的孔径比生成补偿数据;以及面板驱动器,所述面板驱动器配置为基于应用所述补偿数据的图像数据来驱动所述显示面板,其中,所述面板驱动器配置为根据所述孔径比将相同的所述图像数据的不同大小的数据电压输出到所述显示面板。10.根据权利要求9所述的显示装置,其中:所述子像素中的至少一个包含像素限定层和第一电极;以及基于由所述像素限定层暴露的所述第一电极的面积来确定所述孔径比。11.根据权利要求9所述的显示装置,其中,当所述孔径比大于预定参考孔径比时,对应于所述图像数据的补偿数据电压小于孔径比补偿前的所述数据电压。12.根据权利要求9所述的显示装置,其中,当所述孔径比大于预定参考孔径比时,通过对应于所述图像数据的补偿数据电压流经所述显示面板的电流大于孔径比补偿前通过所述数据电压流经所述显示面板的电流,并且通过对应于所述图像数据的补偿数据电压的所述显示面板的亮度大于由于孔径比补偿前的所述数据电压的所述显示面板的亮度。13.根据权利要求9所述的显示装置,其中,当所述孔径比小于预定参考孔径比时,对应于所述图像数据的补偿数据电压大于孔径比补偿前的所述数据电压。14.根据权利要求9所述的显示装置,其中,当所述孔径比小于预定参考孔径比时,通过对应于所述图像数据的补偿数据电压流经所述显示面板的电流小于由于孔径比补偿前的所述数据电压流经所述显示面板的电流,并且通过对应于所述图像数据的补偿数据电压的所述显示面板的亮度小于通过孔径比补偿前的所述数据电压的所述显示面板的亮度。15.根据权利要求9所述的显示装置,其中,随着相同的所述图像数据的所述孔径比增加,所述数据电压的绝对值的大小增加。
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