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申请/专利权人：上海兆芯集成电路股份有限公司
摘要：本发明在此提出一种验证方法，验证方法包括：对包括多个电路单元的电路布局进行电压降分析而产生包括对应电路单元的每一者的多个分析数值的分析结果；根据电路单元的每一者对应的分析数值，判断电路布局中的第一电路单元发生电压降违例的原因；以及根据第一电路单元对应的分析数值，修正电路布局。由此，分析电压降违例的原因所需的时间得以大幅的减短。
主权项：1.一种验证方法，其特征在于，包括：对电路布局进行电压降分析而产生分析结果，其中上述电路布局包括多个电路单元，上述分析结果包括与上述多个电路单元分别对应的多个分析数值；根据上述电路单元的每一者对应的上述分析数值，判断上述电路布局中的第一电路单元发生电压降违例的原因；以及根据上述第一电路单元对应的上述分析数值，修正上述电路布局，其中，对应上述电路单元的每一者的上述分析数值包括X轴坐标、Y轴坐标、电路单元类型、供应电压最小阻抗路径电阻值、接地最小阻抗路径电阻值、输入脚位最大翻转密度、输出脚位总翻转密度以及电路单元总功率。
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百度查询： 上海兆芯集成电路股份有限公司 验证方法
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