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申请/专利权人：深圳忆联信息系统有限公司
摘要：本发明涉及自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：获取主机下发的读命令；解析读命令，得到命令参数；根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。本发明通过在SSD固件实现眼图测量分析，为产线测试及客户端的失效分析，提供了方便快捷的眼图分析工具，能够更好地满足需求。
主权项：1.自动测量PCIE眼图的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取主机下发的读命令；解析读命令，得到命令参数；根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机；所述命令参数为PCIE通道号；所述根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据步骤中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数；其中，获取收集完所有采样点的错误比特率数据后，得到一个维度分别为电压与相位的二维数组，然后将错误比特率数据分类，用符号‘#’代表错误比特率0的点，符号‘.’代表错误比特率＝0的点，平铺到以电压与相位为坐标的二维区间，以得到基于错误比特率的数字眼图，然后固件中通过二维数组查表程序查询，即可获取错误比特率＝0的数组上下左右边界，即计算出眼宽眼高数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳忆联信息系统有限公司 自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质
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