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一种用于高分子材料的高速刮擦测试设备 

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申请/专利权人:西南交通大学

摘要:本发明提出一种用于高分子材料的高速刮擦测试设备,属于材料刮擦性能测试领域,以解决目前高速刮擦测试时控制不稳定、测量不灵敏的问题;包括刮头组件,所述刮头组件包括刮头框架和刮头套筒;所述刮头框架内设有悬臂力传感器,所述悬臂力传感器底部设有X向导轨b,所述刮头套筒的设在低阻X向导轨b上;所述刮头框架一侧设有朝向刮头套筒侧壁的力传感器,所述力传感器的端部设有Z向导轨a,所述Z向导轨a与刮头套筒接触;本发明中,X向导轨b和Z向导轨a结合分离二向力的设计干扰低,尺寸小,能够保证高速下的稳定测量。

主权项:1.一种用于高分子材料的高速刮擦测试设备,其特征在于:包括刮头组件(5),所述刮头组件(5)包括刮头框架(502)和刮头套筒(514);所述刮头框架(502)内设有悬臂力传感器(510),所述悬臂力传感器(510)底部设有X向导轨b(513),所述刮头套筒(514)设在X向导轨b(513)上;所述刮头框架(502)一侧设有朝向刮头套筒(514)侧壁的力传感器(504),所述力传感器(504)的端部设有Z向导轨a(506);所述Z向导轨a(506)朝向刮头套筒(514)的一端设有万向滚珠(508),所述万向滚珠(508)与刮头套筒(514)接触。

全文数据:

权利要求:

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