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一种PCIe交换芯片的端口拥塞监测方法 

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申请/专利权人:北京数渡信息科技有限公司

摘要:本发明公开了一种PCIe交换芯片的端口拥塞监测方法,通过性能监测单元POU对PCIe交换芯片的各端口进行性能监测,获得多种事件类型的计数事件触发数;根据计数事件触发数定位PCIe交换芯片的性能瓶颈点。本发明结合各个端口POU所采集到的计数事件触发数,通过端口数据比对等方式,可以有效定位PCIe交换芯片的瓶颈点,从而及时发现端口问题,避免对流量传输效率产生影响,确保PCIe交换芯片无阻塞、低延迟转发数据包。

主权项:1.一种PCIe交换芯片的端口拥塞监测方法,其特征在于,通过性能监测单元POU对PCIe交换芯片的各端口进行性能监测,获得多种事件类型的计数事件触发数;根据计数事件触发数定位PCIe交换芯片的性能瓶颈点;通过性能探针Probe对PCIe交换芯片所有子系统中的各个逻辑和列队拥塞点进行实时探测,并定位子系统拥塞点;将性能监测单元POU分布于PCIe交换芯片的子系统中,获取多种事件类型的计数事件触发数,具体包括:P、NP、CPLTLP、CPLDW、CPLDQFull事件触发计数;根据所得多种事件类型的计数事件触发数对PCIe交换芯片的各端口进行数据比对,包括:单对单场景数据比对、单对多场景数据比对、多对多场景数据比对以及不同性能监测单元POU的DQFull事件数据比对;通过性能探针Probe对PCIe交换芯片所有子系统中的各个逻辑和列队拥塞点进行实时探测,并定位子系统拥塞点,其具体方法是:MCPU周期性采集PCIe交换芯片所有子系统的性能探针Probe状态,打印到系统日志中,根据系统日志中性能探针Probe的历史状态定位子系统发生拥塞;若性能探针Probe置1时,表示该子系统发生拥塞,若性能探针Probe置0时,表示该子系统未发生拥塞。

全文数据:

权利要求:

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