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申请/专利权人：上海中化科技有限公司

摘要：本发明提供了一种聚酰亚胺的酰亚胺化率的检测方法。该检测方法包括：步骤S1，建立动电电荷密度和酰亚胺化率的标准曲线，并根据标准曲线拟合获得公式I，步骤S2，检测聚酰亚胺膜的Zeta电位；步骤S3，利用公式II计算得到动电电荷密度，根据动电电荷密度和公式I计算得到酰亚胺化率，其中，公式I为：σek＝k6‑k5x，σek为动电电荷密度，x为酰亚胺化率；公式II为利用固体表面zeta电位法测试样品时，与样品表面的平整度和样品表面缺陷、薄膜的厚度等因素均无关联，因此可以比较准确得到该zeta电位；然后通过公式II利用检测得到的zeta电位计算动电电荷密度，结合公式I计算得到酰亚胺化率。

主权项：1.一种聚酰亚胺的酰亚胺化率的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：步骤S1，建立动电电荷密度和酰亚胺化率的标准曲线，并根据所述标准曲线拟合获得公式I，步骤S2，检测聚酰亚胺膜的Zeta电位；步骤S3，利用公式II计算得到动电电荷密度，根据所述动电电荷密度和所述公式I计算得到酰亚胺化率，其中，所述公式I为：σek＝k6-k5x，σek为动电电荷密度，x为酰亚胺化率；所述公式II为σek＝k1sinhk2ζ，k1和k2均为常数，且k1在38.65～124之间，k2在-20.14～-19.47之间，ζ为所述聚酰亚胺膜的zeta电位；所述步骤S1包括：步骤A，制备酰亚胺化率为100％和0％的标准聚酰亚胺膜；步骤B，检测所述标准聚酰亚胺膜的Zeta电位；利用所述公式II计算得到动电电荷密度；得到所述酰亚胺化率为100％标准聚酰亚胺膜Zeta电位和动电电荷密度、所述酰亚胺化率为0％的标准聚酰亚胺膜的Zeta电位和动电电荷密度；步骤C，以所述步骤B的酰亚胺化率为横坐标，以与之对应的动电电荷密度为纵坐标，建立标准曲线，所述标准曲线为直线，且利用所述标准曲线计算得到所述k5和k6值，即得到所述公式I；或者所述步骤S1包括：步骤A，制备酰亚胺化率为70％和100％的标准聚酰亚胺膜；步骤B，检测所述标准聚酰亚胺膜的Zeta电位；利用所述公式II计算得到动电电荷密度；得到所述酰亚胺化率为70％标准聚酰亚胺膜Zeta电位和动电电荷密度、所述酰亚胺化率为100％的标准聚酰亚胺膜的Zeta电位和动电电荷密度；步骤C，以所述步骤B的酰亚胺化率为横坐标，以与之对应的动电电荷密度为纵坐标，建立标准曲线，所述标准曲线为直线，且利用所述标准曲线计算得到所述k5和k6值，即得到所述公式I。

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