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小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质 

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申请/专利权人:东莞记忆存储科技有限公司

摘要:本发明涉及小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法,包括:获取上位机发送的测试指令,并根据测试指令对小卡执行电路通路测试;将测试结果返回至上位机。本发明通过获取上位机发送的测试指令,并根据测试指令对小卡执行电路通路测试,将测试结果返回至上位机;减少了测试时间,提高了生产效率,还避免服务器与PCI‑e测试卡的损耗,降低了测试成本。

主权项:1.小卡电路通路测试方法,其特征在于,包括以下步骤:获取上位机发送的测试指令,并根据测试指令对小卡执行电路通路测试;将测试结果返回至上位机;所述电路通路测试包括:开路测试、短路测试、上电测试、电压监控测试、电流监控测试、及电路信号连通性测试;其中,短路测试的测试时间大于5秒,MCU测试板对各个网络链路点进行短路测试,首先将所有I0口设置为输入状态,从第一个到最后一个进行扫描,在测试当前IO时,将该IO口设置为输出模式,分别输出高低电平,对其他的I0口进行扫描,判断是否为高低电平,当某个IO跟着当前的IO进行高低变化,则认为短路;其中,电压监控测试和电流监控测试,通过控制电源输出到小卡,从小卡返回的信号,即分压电阻返回通路,用于测量DUT上面的电压是否正常,使用CLK_1OOM_PCIE_RISER_1_DP、DN分别对3.3V、12V进行返回测试,信号连接大MCUADC通道上进行电压测量;MCU分别控制各个测试卡上面的负载,再获取小卡上面的INA219B所测量的电压电流,通过监控电流值得出测试卡上面的电源是否正常;其中,INA219B为稳流器;其中,开路测试,MCU的部分IO口连接到PCIE接口差分信号的GND上,当连接器焊接正常时,则该IO口为低电平,如果有开路,则该I0口读取为高电平,通过判断该I0口的高低电平即可判断是否开路;所述将测试结果返回至上位机步骤之后,还包括:上位机对测试结果进行检测;若测试结果为合格,则上位机对小卡上的EEPROM内容烧写;然后上位机控制对MCU测试板下电,控制测试治具载板分离出仓,将小卡取出,完成测试;若测试结果为不合格,则上位机直接控制对MCU测试板下电,控制测试治具载板分离出仓,将小卡取出,进行检修或废品处理。

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权利要求:

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