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一种DCS自动测试方法、装置和系统 

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申请/专利权人:北京广利核系统工程有限公司

摘要:一种DCS自动测试方法、装置和系统,包括:获取响应时间测试序列配置数组;在功能测试同时获取响应时间测试同步触发信号;判断当前测试周期内的示波器参数是否与前一周期一致,如果不一致,由调取与触发信号相匹配的测试序列配置,基于测试序列配置对示波器进行预置,进行继电器阵列配置;若一致,则直接配置继电器阵列;若在预定时间内未采集到与本测试周期内第一次相同的同步触发信号时,则提示异常后退出本次测试周期,否则继续采集同步触发信号;当接收到与第一次采集相同的同步触发信号后,启动示波器进行数据采集;基于示波器采集到的响应数据,计算触发信号对应的测试通道的响应时间,提高了DCS系统的测试效率。

主权项:1.一种DCS自动测试方法,其特征在于,包括:获取测试序列配置数组;获取响应时间测试同步触发信号;由测试序列配置数组中调取与所述触发信号相匹配的测试序列配置;判断当前测试周期内确定的测试序列配置所对应的示波器配置是否与前一测试周期一致,如果不一致,基于所述测试序列配置对示波器进行预置,然后基于所述测试序列配置对继电器阵列进行控制;如果一致,则直接基于所述测试序列配置对继电器阵列进行控制;若在预定时间内未采集到与本测试周期内第一次获取到的同步触发信号相同的同步触发信号时,则提示异常后退出本次测试周期,否则继续等待采集所述同步触发信号;若在预定时间内采集到与本测试周期内第一次获取到的同步触发信号相同的同步触发信号时,启动所述示波器进行数据采集;基于所述示波器采集到的响应数据计算所述触发信号对应的测试通道的响应时间。

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