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申请/专利权人：莫扎特半导体(苏州)有限公司
摘要：本实用新型公开了共用型老化测试插座结构，属于老化测试插座技术领域，包括插座底座，插座底座的顶部固定连接有插座外壳，插座外壳的内部设有芯片定位座，芯片定位座的两侧外表面均活动连接有限位夹，插座外壳的内部设有移动连杆，通过移动组件固定连接有移动片，通过插座外壳带动移动连杆，拉动两边的限位夹，在移动连杆的作用下使得移动片相对运动，从而带动移动片使测试探针头打开，当根据不同芯片放入时透过测试探针头对芯片锡球进行夹持固定，从而可以适应不同尺寸的芯片，插座外壳用以加强对插座底座内部结构的保护，可用于同样封装不同尺寸的芯片测试，减少客户测试的成本。
主权项：1.共用型老化测试插座结构，包括插座底座（1），其特征在于：所述插座底座（1）的顶部固定连接有插座外壳（2），所述插座外壳（2）的内部设有芯片定位座（3），所述芯片定位座（3）的两侧外表面均活动连接有限位夹（4），所述插座外壳（2）的内部设有移动组件，通过移动组件固定连接有测试探针（9），所述插座底座（1）的底部固定连接有测试探针座（8），所述插座底座（1）的外表面转动连接有限位夹转动杆（5）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 莫扎特半导体(苏州)有限公司 共用型老化测试插座结构
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