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申请/专利权人：无锡众盛禾半导体设备有限公司
摘要：本实用新型涉及高温反向偏压测试设备技术领域，具体为一种高温反向偏压测试设备的测试单元底座，包括底板；所述底板顶端连接有取放机构，所述取放机构包括限位拉板，所述限位拉板滑动连接在底板顶端，所述限位拉板一端固定连接有下料拉块，所述限位拉板另一端转动连接有上料推块，所述底板顶端滑动连接有解锁板，所述解锁板与上料推块位置相互对应。通过设置的手动解锁结构在出现意外断电的情况时可以将取放结构手动解锁，从而可以方便的将测试组件以及内部的样品方便的从测试设备内部取出，避免了样品的受到持续的高温老化影响，同时手动解锁结构在将测试组件取出后也可以方便对内部的检修操作。
主权项：1.一种高温反向偏压测试设备的测试单元底座，包括底板1，其特征在于：所述底板1顶端连接有取放机构2，所述取放机构2包括限位拉板201，所述限位拉板201滑动连接在底板1顶端，所述限位拉板201一端固定连接有下料拉块202，所述限位拉板201另一端转动连接有上料推块203，所述底板1顶端滑动连接有解锁板204，所述解锁板204与上料推块203位置相互对应。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡众盛禾半导体设备有限公司 一种高温反向偏压测试设备的测试单元底座
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