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申请/专利权人：中兴通讯股份有限公司
摘要：本发明实施例提供一种存储器测试方法、装置及存储介质，属于硬件测试领域。该方法包括：获取测试指令，其中，所述测试指令至少包括烧录软件的操作界面中烧录控制操作对应的预设操作位置；根据所述测试指令，在所述测试指令指示的预设操作位置执行对应的烧录控制操作，以使烧录软件将所述测试指令对应的预设烧录文件烧录到待测存储器，且在将所述预设烧录文件烧录到所述待测存储器期间，至少一次断开向所述待测存储器的供电；向所述待测存储器供电，根据所述预设烧录文件的烧录结果，确定测试结果。通过获取测试指令对存储器进行掉电测试，降低了存储器测试的复杂度和人力成本，确保了存储器的稳定性。
主权项：1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：获取测试指令，其中，所述测试指令至少包括烧录软件的操作界面中烧录控制操作对应的预设操作位置；根据所述测试指令，在所述测试指令指示的预设操作位置执行对应的烧录控制操作，以使烧录软件将所述测试指令对应的预设烧录文件烧录到待测存储器，且在将所述预设烧录文件烧录到所述待测存储器期间，至少一次断开向所述待测存储器的供电；向所述待测存储器供电，根据所述预设烧录文件的烧录结果，确定测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中兴通讯股份有限公司 存储器测试方法、系统、装置及存储介质
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