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申请/专利权人：凌思微电子(杭州)有限公司
摘要：本申请提供一种RISC‑V芯片的实时监控调试方法、装置和电子设备，涉及芯片设计和调试领域。该方法中，初始化调试模式控制与状态寄存器的ebreakm位，判断所述ebreakm位是否被修改，在修改为调试位的情况下，执行ebreak指令；读取所述RISC‑V芯片的暂停位，在进入调试状态的情况下，修改调试模块状态寄存器和所述调试模式控制与状态寄存器的cause位；在所述调试模块状态寄存器中的值指示为暂停的情况下，判断所述cause位的值是否为调试状态；在所述cause位的值指示为调试状态的情况下，直接获取所述RISC‑V芯片中的调试信息，并进行显示。能够直接读取调试信息，结构简单，提高了开发调试效率。
主权项：1.一种RISC-V芯片的实时监控调试方法，其特征在于，应用于调试设备，所述调试设备与所述RISC-V芯片连接，所述方法包括：初始化调试模式控制与状态寄存器的ebreakm位，判断所述ebreakm位是否被修改，在修改为调试位的情况下，执行ebreak指令；读取所述RISC-V芯片的暂停位，在进入调试状态的情况下，修改调试模块状态寄存器和所述调试模式控制与状态寄存器的cause位；在所述调试模块状态寄存器中的值指示为暂停的情况下，判断所述cause位的值是否为调试状态；在所述cause位的值指示为调试状态的情况下，直接获取所述RISC-V芯片中的调试信息，并进行显示。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 凌思微电子(杭州)有限公司 RISC-V芯片的实时监控调试方法、装置和电子设备
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