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申请/专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
摘要：提供了一种校准飞行时间TOF质量分析器的方法。该方法包括使用TOF质量分析器执行校准物离子的多个校准分析。每个校准分析包括使用TOF质量分析器测量校准物离子的飞行时间，其中TOF质量分析器具有对校准物离子的飞行时间有影响的相关联的仪器参数。每个校准分析还包括基于校准物离子的已知质荷比和相应的飞行时间来确定用于TOF质量分析器的参考校准曲线，其中该参考校准曲线与用于相应的校准分析的TOF质量分析器的仪器参数相关联。对于多个校准分析中的每个校准分析，TOF质量分析器的仪器参数的值是不同的。该方法还包括确定在由TOF质量分析器执行的TOF质量分析中使用的校准曲线，其中该校准曲线是基于多个参考校准曲线和将在TOF质量分析中使用的TOF质量分析器的仪器参数确定的。
主权项：1.一种校准飞行时间TOF质量分析器的方法，所述方法包括：使用TOF质量分析器执行校准物离子的多个校准分析，每个校准分析包括：使用所述TOF质量分析器测量所述校准物离子的飞行时间，其中所述TOF质量分析器具有对所述校准物离子的所述飞行时间有影响的相关联的仪器参数；以及基于所述校准物离子的已知质荷比和相应的飞行时间来确定用于所述TOF质量分析器的参考校准曲线，其中所述参考校准曲线与用于相应的校准分析的所述TOF质量分析器的所述仪器参数相关联，其中对于所述多个校准分析中的每个校准分析，所述TOF质量分析器的所述仪器参数的值是不同的；以及确定在由所述TOF质量分析器执行的TOF质量分析中使用的校准曲线，其中所述校准曲线是基于多个参考校准曲线和将在所述TOF质量分析中使用的所述TOF质量分析器的所述仪器参数来确定的。
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百度查询： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 飞行时间质量分析系统
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