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申请/专利权人：晶端显示精密电子(苏州)有限公司
摘要：本发明公开了一种基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，包括如下步骤：S1.AOI检测单元对待检测的产品进行AOI检测，自动筛选出初筛良品和初筛不良品；S2.AI检测单元对S1中筛选出的初筛不良品进行AI检测，自动筛选出二筛良品和二筛不良品；S3.步骤S1和S2中的二筛不良品由人工进行复检，检测是否还有良品。本发明先通过AOI检测单元对产品进行初筛良品和初筛不良品的筛选，然后针对初筛不良品再次进行AI检测单元的二次筛选，在AI检测单元中，通过训练包含分类分支的Encoder‑Decoder模型再配合获得的掩模图来输出模型预测的缺陷类型，从而能避免初筛不良品中由于存在未知的缺陷而导致AOI无法识别后误检为不良品，提高检测精度，同时降低过检率和漏检率。
主权项：1.一种基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1.AOI检测单元对待检测的产品进行AOI检测，自动筛选出初筛良品和初筛不良品；S2.AI检测单元对S1中筛选出的初筛不良品进行AI检测，自动筛选出二筛良品和二筛不良品；S3.对步骤S2中的二筛不良品再由人工进行复检，检测是否还有良品。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 晶端显示精密电子(苏州)有限公司 一种基于AOI和AI的液晶面板用检测方法
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