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申请/专利权人：中国科学院近代物理研究所
摘要：本发明涉及晶体微结构分析技术领域，公开了一种晶体空位缺陷类型识别方法及装置。本发明可以获取与晶体样品的N个预期空位缺陷类型一一对应的N个正电子湮灭动量展宽谱的理论比例谱，确定N个理论比例谱在预设的峰位偏移量区间中的多个公共交点；根据公共交点在峰位偏移量区间中确定M个预期空位缺陷类型对应的峰位特征区间；M小于等于N；基于M个预期空位缺陷类型对应的峰位特征区间和晶体样品对应的第一实验比例谱，确定M个预期空位缺陷类型对应的分辨参数；根据M个预期空位缺陷类型对应的分辨参数，确定晶体样品的真实空位缺陷类型。本发明可以通过对晶体样品的理论比例谱和实验比例谱进行数据处理，有效识别晶体样品中的空位缺陷类型。
主权项：1.一种晶体空位缺陷类型识别方法，其特征在于，所述方法包括：获取与晶体样品的N个预期空位缺陷类型一一对应的N个理论比例谱，所述理论比例谱中包括峰位偏移量与正电子湮灭强度理论比的对应关系；确定N个所述理论比例谱在预设的峰位偏移量区间中的多个公共交点；根据所述公共交点，在所述峰位偏移量区间中确定M个预期空位缺陷类型对应的峰位特征区间；其中，M小于等于N；基于所述M个预期空位缺陷类型对应的峰位特征区间和所述晶体样品对应的第一实验比例谱，确定所述M个预期空位缺陷类型对应的分辨参数；所述第一实验比例谱中包括峰位偏移量与正电子湮灭强度实验比之间的对应关系；所述基于所述M个预期空位缺陷类型对应的峰位特征区间和所述晶体样品对应的第一实验比例谱，确定所述M个预期空位缺陷类型对应的分辨参数，包括：计算所述第一实验比例谱分别在每个所述峰位特征区间中的积分值，并分别作为相应预期空位缺陷类型的实验谱积分值，以得到所述M个预期空位缺陷类型的实验谱积分值；根据所述M个预期空位缺陷类型的实验谱积分值，确定所述M个预期空位缺陷类型对应的分辨参数；根据所述M个预期空位缺陷类型对应的分辨参数，确定所述晶体样品的真实空位缺陷类型。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院近代物理研究所 一种晶体空位缺陷类型识别方法及装置
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