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芯片指令访存验证方法、装置、电子设备和存储介质 

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申请/专利权人:上海壁仞科技股份有限公司

摘要:本申请提供了一种芯片指令访存验证方法、装置、电子设备和存储介质,涉及集成电路技术领域,其中包括:基于目标执行模块确定验证场景、访存指令,以及所述访存指令对应的多个线程组;基于各个目标执行模块在所述被测试芯片中所适用的地址空间约束策略,确定各个线程组的地址空间约束策略;基于各个线程组的地址空间约束策略,确定所述访存指令的地址空间约束策略;基于所述访存指令的地址空间约束策略,对所述被测试芯片的内存进行访存验证。本申请提供的方法和装置,提高了芯片指令访存验证的完备性、灵活性和验证效率。

主权项:1.一种芯片指令访存验证方法,其特征在于,包括:基于目标执行模块确定验证场景、访存指令,以及所述访存指令对应的多个线程组;基于各个目标执行模块在被测试芯片中所适用的地址空间约束策略,确定各个线程组的地址空间约束策略;基于各个线程组的地址空间约束策略,确定所述访存指令的地址空间约束策略;基于所述访存指令的地址空间约束策略,对所述被测试芯片的内存进行访存验证。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海壁仞科技股份有限公司 芯片指令访存验证方法、装置、电子设备和存储介质

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