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申请/专利权人：中建八局发展建设有限公司
摘要：本发明提供了一种高科技厂房防微振缺陷定位方法、介质及系统，属于高科技厂房技术领域，包括：获取经过荧光粉尘喷洒设备喷洒到高科技厂房顶壁外表面的荧光粉尘的分布图像，记为初始图像以及多张间隔图像；配准后得到校正后的间隔图像组；进行逐帧差分计算，得到多个差分图像；执行特征提取和自监督的聚类分析，识别出不同类型的荧光粉尘移动特征，形成荧光粉尘移动特征矩阵；输入到预选训练好的微振缺陷定位模型，得到微振缺陷初步定位矩阵：计算在高科技厂房三维模型对应的区域，作为微振异常区域；获取向微振异常区域发射的超声波信号参数以及接收到的超声波回波信号，并对微振异常区域进行定位，得到确定的多个位置作为防微振缺陷位置。
主权项：1.一种高科技厂房防微振缺陷定位方法，其特征在于，包括以下步骤：S10、获取经过荧光粉尘喷洒设备喷洒到高科技厂房顶壁外表面的荧光粉尘的分布图像，记为初始图像；S20、根据指定时间间隔连续获取的荧光粉尘分布图像，形成间隔图像组，包括多张间隔图像；S30、对所述初始图像以及所述间隔图像组执行图像配准操作，校正各张图像之间的位置偏差，得到校正后的间隔图像组；S40、采用差分算法对所述校正后的间隔图像组进行逐帧差分计算，得到多个差分图像；S50、对所述差分图像执行特征提取和自监督的聚类分析，识别出不同类型的荧光粉尘移动特征，形成荧光粉尘移动特征矩阵；S60、将所述荧光粉尘移动图像矩阵输入到预选训练好的微振缺陷定位模型，得到微振缺陷初步定位矩阵：S70、计算所述微振缺陷初步定位矩阵在高科技厂房三维模型对应的区域，作为微振异常区域；S80、获取向所述微振异常区域发射的超声波信号参数以及接收到的超声波回波信号，并基于所述超声波信号参数及超声波回波信号对微振异常区域进行定位，得到确定的多个位置作为高科技厂房防微振缺陷位置。
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