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申请/专利权人：深圳市美信检测技术股份有限公司

摘要：本发明涉及超声波检测的技术领域，公开了一种超声波成像的方法，本发明通过抛光前处理后，结合超声波扫描显微镜序列对待检测目标进行阵列式超声成像检测，获取由多个初始成像模型形成综合评估成像模型，分析处理综合评估成像模型，调整探头位置获得补充检测探头阵列，使用补充检测探头阵列进行阵列式超声成像检测，获取补充超声波成像数据集合，根据补充数据对综合评估成像模型进行补充模拟处理，生成最终成像模型，通过多个超声波探头的协同工作，提升了成像数据的精确性和全面性，采用补充检测探头阵列进行补充检测，优化了成像检测的效果与准确度，解决了现有技术中使用超声波扫描显微镜对塑封芯片进行高精度成像会受到干扰的问题。

主权项：1.一种超声波成像方法，其特征在于，包括：通过砂纸与抛光布依次对待检测目标进行打磨处理，以降低所述待检测目标表面的粗糙度；基于预设的超声波扫描显微镜序列对所述待检测目标进行阵列式超声成像检测，以得到所述待检测目标的初始超声波成像数据集合；其中，所述超声波扫描显微镜序列包括若干个超声波扫描显微镜的工作位置，所述超声波扫描显微镜的各个工作位置具有相同的定位坐标与不同的聚焦位置，所述初始超声波成像数据集合包括若干初始超声波成像数据，各个所述初始超声波成像数据分别对应所述超声波扫描显微镜的各个工作位置；对所述初始超声波成像数据集合的各个所述初始超声波成像数据分别进行数据成像处理，以得到对应各个所述初始超声波成像数据的初始成像模型；其中，所述初始成像模型具有以所述超声波探头为基准点的区域划分框架，所述区域划分框架将所述初始成像模型划分为若干个初始区域，各个所述初始区域分别具有成像评估标签；根据所述超声波扫描显微镜序列中所述超声波扫描显微镜的各个工作位置的相对位置关系，对各个所述初始成像模型进行模型叠加处理，以得到综合评估成像模型；其中，所述综合评估成像模型具有区域定位框架，所述区域定位框架将所述综合评估成像模型划分为若干个评估区域，所述评估区域来源于各个所述初始成像模型中对应的所述初始区域根据所述成像评估标签进行的叠加分析处理；对所述综合评估成像模型进行分析处理，根据分析处理的结果获取补充检测探头阵列；其中，所述补充检测探头阵列通过对所述超声波扫描显微镜序列进行位置调整得到；基于所述补充检测探头阵列对所述待检测目标进行阵列式超声成像检测，以得到所述待检测目标的补充超声波成像数据集合，根据所述补充超声波成像数据集合对所述综合评估成像模型进行补充模拟处理，以得到最终成像模型。

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