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内存测试装置以及测试电压调整方法 

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申请/专利权人:润昇系统测试(深圳)有限公司

摘要:本发明提供一种内存测试装置以及测试电压调整方法。内存测试装置用以对至少一待测内存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、至少一测试板以及至少一检测器。主机提供测试流程;所述至少一测试板基于测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试;各所述至少一检测器接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于测试流程的测试电压,依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息;主机依据电压偏移信息调整测试流程,使对应测试板依据经调整的测试流程调整测试电压。

主权项:1.一种内存测试装置,用以对多个待测内存模块进行测试,其特征在于,所述内存测试装置包括:主机,经配置以提供测试流程;多个测试板,分别耦接于所述主机,经配置以基于所述测试流程分别对所述多个待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试,其中所述多个待测内存模块以一对一方式被设置在所述多个测试板上;以及多个检测器,耦接于所述主机,并以一对一方式与所述多个测试板对应耦接,其中各所述多个检测器经配置以接收自所述多个测试板中的对应测试板所提供的关联于所述测试流程的测试电压,并且依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息,其中所述主机依据所述电压偏移信息,提供用以调整所述测试流程的电压设定值,以提供经调整的测试流程,使得所述对应测试板依据所述经调整的测试流程来设定所述测试电压,其中各所述多个测试板包括:作业单元,耦接于所述主机,经配置以依据所述测试流程提供测试参数,并存储所述测试流程;配置模块,耦接于所述作业单元;以及测试模块,耦接于所述主机以及所述配置模块,经配置以接收所述测试流程,并控制所述配置模块将所述测试流程存储至所述作业单元的存储模块;以及其中各所述多个检测器包括:识别模块,经配置以存储识别符,其中当各所述多个检测器提供所述电压偏移信息时提供所述识别符,其中所述主机依据所述识别符将所述经调整的测试流程提供到所述对应测试板。

全文数据:

权利要求:

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