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集成电路时延检测方法、装置、存储介质及电子设备 

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申请/专利权人:成都海光微电子技术有限公司

摘要:本申请提供了一种集成电路时延检测方法、装置、存储介质及电子设备。其中,该集成电路时延检测方法,包括:获取待检测的目标集成电路的电路网表以及电路版图;获取选定的目标走线,并基于所述目标走线在所述电路版图获取指定电路区域;根据所述电路网表对所述指定电路区域进行寄生参数抽取,得到精简DSPF网表文件;根据所述精简DSPF网表文件进行仿真得到所述目标走线在所述指定电路区域的第一时延;根据所述第一时延计算所述目标走线为任意长度时的目标时延。从而只需一次仿真即可计算出任意长度或者长度变化后的目标走线的目标时延,可以减少仿真次数,提高效率。

主权项:1.一种集成电路时延检测方法,其特征在于,包括:获取待检测的目标集成电路的电路网表以及电路版图;获取选定的目标走线,并基于所述目标走线在所述电路版图获取指定电路区域;根据所述电路网表对所述指定电路区域进行寄生参数抽取,得到精简DSPF网表文件;根据所述精简DSPF网表文件进行仿真得到所述目标走线在所述指定电路区域的第一时延;根据所述第一时延计算所述目标走线为任意长度时的目标时延;其中,基于所述目标走线在所述电路版图获取指定电路区域,包括:删除预设区域内不影响预先选定的目标走线的时延的目标电子元件,得到指定电路区域,其中,所述目标电子元件为与所述目标走线不相连的电子元件;其中,所述删除预设区域内不影响预先选定的目标走线的时延的目标电子元件,得到指定电路区域,包括:获取config配置文件,所述config配置文件中包括与所述目标走线连接的多个电子元件的坐标;根据所述config配置文件将所述多个电子元件之外的与所述目标走线不相连的电子元件作为目标电子元件进行删减,得到指定电路区域。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 成都海光微电子技术有限公司 集成电路时延检测方法、装置、存储介质及电子设备

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