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申请/专利权人：北京师范大学
摘要：本发明涉及植被参数测量技术领域，公开了一种叶面积指数确定方法、装置、设备和介质。该方法包括：获取对叶面积指数进行间接测量所得的一维样线数据，并基于一维样线数据和盒子计数法，确定一维样线数据对应的一维分维数；其中，一维分维数用于表征叶片分布特征；将一维分维数、叶片投影函数值、样线长度、一维样线数据对应的样线间隙率和叶片半径，输入目标聚集指数模型，确定一维样线数据对应的样线聚集指数；将样线聚集指数、叶片投影函数值和样线间隙率，输入间隙率模型，确定一维样线数据对应的样线叶面积指数。通过上述技术方案，对LAI间接测量方法中的聚集效应进行了较为充分的纠正，从而提高了叶面积指数的测量精准度。
主权项：1.一种叶面积指数确定方法，其特征在于，包括：获取对叶面积指数进行间接测量所得的一维样线数据，并基于所述一维样线数据和盒子计数法，确定所述一维样线数据对应的一维分维数；其中，所述一维分维数用于表征叶片分布特征；将所述一维分维数、叶片投影函数值、样线长度、所述一维样线数据对应的样线间隙率和叶片半径，输入目标聚集指数模型，确定所述一维样线数据对应的样线聚集指数；其中，所述目标聚集指数模型用于表征一维分维数变量、叶面积指数变量和聚集指数变量之间的换算关系；所述目标聚集指数模型基于叶片空间分布规律、叶片与样线的相交概率以及叶面积指数定义形式来构建，所述相交概率基于二项分布模型来确定；将所述样线聚集指数、所述叶片投影函数值和所述样线间隙率，输入间隙率模型，确定所述一维样线数据对应的样线叶面积指数；其中，所述目标聚集指数模型为： 其中，FD表示所述一维分维数，LAI表示叶面积指数，Ω表示所述样线聚集指数，Gθ表示观测天顶角θ方向上的所述叶片投影函数值，r表示所述叶片半径，L表示所述样线长度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京师范大学 叶面积指数确定方法、装置、设备和介质
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