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申请/专利权人：苏州华兴源创科技股份有限公司

摘要：本申请涉及一种测试设备，测试设备包括机台、上料机构、取料机构、下料机构与缓存机构，上料机构包括上料模组与分料模组，上料模组用于将承载有待测产品的堆叠料盘送料至上料位，分料模组用于将堆叠料盘中的顶层满料盘分离；取料机构用于将分离的满料盘内承载的待测产品送料至测试位进行电性测试；下料机构用于将测试位测试完后的待测产品送料至检测位进行外观缺陷检测或下料位，及用于将检测位检测完后的待测产品送料至下料位；缓存机构用于将上料位的空料盘送料至缓存位进行暂存，及用于将缓存位的空料盘送料至下料位进行待测产品的下料承载。本申请提供的测试设备，可自动化进行待测产品的上下料与测试操作，提高待测产品的上下料与测试效率。

主权项：1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括机台及均设置于所述机台的上料机构、取料机构、下料机构与缓存机构，其中：所述机台具有上料位、测试位、检测位、下料位及缓存位；所述上料机构包括上料模组与分料模组，所述上料模组用于将承载有待测产品的堆叠料盘送料至所述上料位，所述分料模组用于将所述堆叠料盘中的顶层满料盘分离，所述上料模组包括顶升组件与托架；所述取料机构可在所述上料位与所述测试位之间运动，所述取料机构用于将分离的所述满料盘内承载的所述待测产品送料至所述测试位进行电性测试；所述下料机构可在所述测试位、所述检测位及所述下料位之间运动，所述下料机构用于将所述测试位测试完后的所述待测产品送料至所述检测位进行外观缺陷检测或所述下料位，及用于将所述检测位检测完后的所述待测产品送料至所述下料位；所述缓存机构可在所述上料位、所述缓存位及所述下料位之间运动，所述缓存机构用于将所述上料位的空料盘送料至所述缓存位进行暂存，及用于将所述缓存位的所述空料盘送料至所述下料位进行所述待测产品的下料承载；所述上料位包括分料位与取料位，所述分料模组包括多个分料组件，多个所述分料组件间隔设置于所述机台，且位于所述分料位，当所述顶升组件将承载的所述堆叠料盘顶升至所述分料位时，所述分料组件对位于所述分料位的所述堆叠料盘中的顶层所述满料盘进行分离；所述分料组件包括支架、扭簧及转动设置于所述支架的卡块，所述支架设置于所述机台，所述扭簧设置于所述支架与所述卡块之间，且在所述卡块的转动过程中，所述卡块能够卡接于顶层所述满料盘的卡口，用于对位于所述分料位的所述堆叠料盘中的顶层所述满料盘进行分离，且所述卡块能够托举分离后的所述满料盘；所述上料模组还包括限位件、第一限位块与第二限位块，所述限位件设置于所述托架，所述第一限位块与所述第二限位块均设置于所述机台，所述托架具有抽拉至所述机台外侧的第一状态及推入至所述机台内侧的第二状态，且当所述托架处于所述第一状态时，所述限位件卡接于所述第一限位块，当所述托架处于所述第二状态时，所述限位件卡接于所述第二限位块。

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