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金属掩膜板及其制作方法和测试方法、OLED封装层的形成方法 

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申请/专利权人:江苏高光半导体材料有限公司

摘要:本公开提供一种金属掩膜板及其制作方法和测试方法、OLED封装层的形成方法。其中的制作方法,包括:提供框架和网面,网面包括多个掩膜条及多个掩膜条围成的多个开口;网面厚度为80μm至250μm;形成半刻槽,对多个掩膜条中的部分或全部进行刻蚀,以形成朝向金属掩膜板背面的半刻槽,刻蚀方向为网面厚度方向,刻蚀深度为所刻蚀掩膜条厚度的10%至40%;其中,半刻槽侧边与掩膜条侧边距离为0.2mm至6mm;张网,将网面张网并固定于框架内,形成掩膜板基板;镀膜,在掩膜板基板表面形成绝缘膜层,绝缘膜层厚度为1μm至3.5μm。能够显著优化使用寿命,降低了使用成本,改善所形成的封装层的质量,为OLED面板提供更大的工艺余量和更可靠的封装质量。

主权项:1.一种金属掩膜板的制作方法,其特征在于,包括:提供框架和网面,所述网面包括多个掩膜条及所述多个掩膜条围成的多个开口;所述网面厚度为80μm至250μm;形成半刻槽,对所述多个掩膜条中的部分或全部进行刻蚀,以形成朝向金属掩膜板背面的半刻槽,所述刻蚀方向为所述网面厚度方向,刻蚀深度为所刻蚀掩膜条厚度的10%至40%;其中,所述半刻槽侧边与掩膜条侧边距离为0.2mm至6mm;张网,将所述网面张网并固定于所述框架内,形成掩膜板基板;镀膜,在所述掩膜板基板表面形成绝缘膜层,所述绝缘膜层厚度为1μm至3.5μm。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江苏高光半导体材料有限公司 金属掩膜板及其制作方法和测试方法、OLED封装层的形成方法

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