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申请/专利权人：横河电机株式会社
摘要：本发明涉及一种测定装置、测定方法以及计算机可读取的记录介质，抑制测定对象物的特性的测定位置精度降低。光纤特性测定装置100从设置于被测定物S的光纤FUT的测定位置获取布里渊频移BFS，通过将获取的BFS变换为温度而生成光纤FUT的长度方向的温度分布，基于所生成的温度分布对光纤FUT的物性变化进行计算，基于计算出的物性变化对光纤FUT的测定位置进行校正。
主权项：1.一种测定装置，其中，所述测定装置测定控制部，该测定控制部从设置于测定对象物的光纤的各测定位置获取各布里渊频移，通过将所述各布里渊频移变换为温度，从而生成所述光纤的长度方向的温度分布，基于所述温度分布对所述光纤的物性变化进行计算，基于所述物性变化对所述光纤的所述各测定位置进行校正。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 横河电机株式会社 测定装置、测定方法以及计算机可读取的记录介质
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