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申请/专利权人：澜起科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种测试电路及包括测试电路的测试装置。测试电路包括信号处理器、第一电阻、第二电阻、第一开关以及第二开关。信号处理器耦接第一驱动端、第二驱动端、第一检测端以及第二检测端。第一电阻耦接在所述第一驱动端以及所述第一检测端间。第二电阻耦接在所述第二驱动端以及所述第二检测端间。第一开关耦接在所述第一检测端与待测组件的第一端间。第二开关耦接在所述第二检测端与待测组件的第二端间。其中，所述第一驱动端通过第一传输导线耦接至所述待测组件的第一端，所述第二驱动端通过第二传输导线耦接至所述待测组件的第二端。
主权项：1.一种测试电路，其特征在于，包括：信号处理器，耦接第一驱动端、第二驱动端、第一检测端以及第二检测端；以及第一电阻，耦接在所述第一驱动端以及所述第一检测端间；第二电阻，耦接在所述第二驱动端以及所述第二检测端间；第一开关，耦接在所述第一检测端与待测组件的第一端间；以及第二开关，耦接在所述第二检测端与待测组件的第二端间，其中，所述第一驱动端通过第一传输导线耦接至所述待测组件的第一端，所述第二驱动端通过第二传输导线耦接至所述待测组件的第二端。
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百度查询： 澜起科技股份有限公司 测试电路及包括测试电路的测试装置
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