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一种荧光分子断层成像快速重建方法 

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申请/专利权人:苏州阿尔忒计算技术有限公司

摘要:本发明涉及分子影像技术,具体涉及一种荧光分子断层成像快速重建方法,通过激发光源激发荧光探针,并采集待成像物体表面的荧光分布信息;基于光传输模型和有限元理论,构建待成像物体表面的荧光分布信息与待成像物体内部的荧光探针之间的线性关系;将线性关系转化为L2范数极小化问题,采用半阈值迭代算法进行求解,得到第一荧光探针重建结果;获取物体表面的荧光分布集,得到训练数据集;构建荧光分子断层成像模型,利用训练数据集对荧光分子断层成像模型进行模型训练,得到训练好的荧光分子断层成像模型;本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的荧光分子断层成像的准确性和效率较低的缺陷。

主权项:1.一种荧光分子断层成像快速重建方法,其特征在于:包括以下步骤:S1、通过激发光源激发荧光探针,并采集待成像物体表面的荧光分布信息;S2、基于光传输模型和有限元理论,构建待成像物体表面的荧光分布信息与待成像物体内部的荧光探针之间的线性关系;S3、将线性关系转化为L2范数极小化问题,采用半阈值迭代算法进行求解,得到第一荧光探针重建结果;S4、获取物体表面的荧光分布集,得到训练数据集;S5、构建荧光分子断层成像模型,利用训练数据集对荧光分子断层成像模型进行模型训练,得到训练好的荧光分子断层成像模型;S6、将待成像物体表面的荧光分布信息输入训练好的荧光分子断层成像模型,得到第二荧光探针重建结果;S7、结合第一荧光探针重建结果和第二荧光探针重建结果,得到待成像物体的最终荧光探针重建结果,并进行显示。

全文数据:

权利要求:

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