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申请/专利权人：山西大学

摘要：本发明涉及精密测量领域，公开了一种基于双光梳干涉法的光学频率梳绝对模式数测量装置及方法，包括激光器、第一光学频率梳、第二光学频率梳；第一光学频率梳发出的激光被分为第一参考光束和第一测量光束两束光，其中第一参考光束经计频器测量其重复频率；第二光学频率梳发出的激光与第一测量光束经第一合光器件后重合并发生干涉，干涉信号入射至探测器，然后经带通滤波器和数字转换器后转换为数字干涉信号，并发送至数据处理单元计算光学频率梳的绝对模式数；第一光学频率梳的偏置频率和与激光器的拍频频率被锁定，第二光学频率梳的重复频率、偏置频率和与激光器的拍频频率被锁定。本发明测量简单快速，可以实现在线测量。

主权项：1.一种基于双光梳干涉法的光梳绝对模式数测量方法，其特征在于，采用的测量装置包括激光器1、第一光学频率梳2、第二光学频率梳3、第一分光器件7、第一合光器件12、计频器15、探测器16、带通滤波器17、数字转换器18和数据处理单元；所述激光器1用于与所述第一光学频率梳2和第二光学频率梳3进行拍频；所述第一光学频率梳2发出的第一激光经第一分光器件7后分为第一参考光束和第一测量光束两束光，其中第一参考光束经计频器15测量其重复频率frep1；所述第二光学频率梳3发出的第二激光作为第二测量光束与所述第一测量光束经第一合光器件12后重合并发生干涉，干涉信号入射至探测器16，所述探测器的输出信号经带通滤波器17和数字转换器18后转换为数字干涉信号，并发送至所述数据处理单元计算光学频率梳的绝对模式数；所述第一光学频率梳的偏置频率fceo1和与激光器1拍频频率fbeat1被锁定，所述第二光学频率梳的重复频率frep2、偏置频率fceo2和与激光器1的拍频频率fbeat2被锁定；所述方法包括以下步骤：S1、通过采样频率等于第二光学频率梳的重复频率frep2的数字转换器将探测器采集到的干涉信号转换为数字干涉信号；S2、记录多个周期的数字干涉信号，并将干涉信号分段处理，确定干涉信号的偏移量与段号之间的斜率α；S3、计算干涉信号的压缩因子M；其计算公式为：M＝M0+α；其中，M0表示每个干涉信号的长度；S4、根据压缩因子M计算第二光学频率梳的绝对模式数，计算公式为： 其中，Δn表示第一光学频率梳2与第二光学频率梳3之间的绝对模式数之差，M表示压缩因子。

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