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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十四研究所
摘要：本发明涉及相控阵天线领域，具体涉及一种相控阵天线系统级快速标校方法。在进行中场校准时，无需进行中场校准单元的精确位置标定，通过利用测量数据进行相位解缠绕二维展开，并按照模型进行拟合从而实现阵面相位误差估计。技术要点主要是基于中场监测参数的折叠相位面二维展开解缠绕，并进行曲面拟合，实现阵面相位参数估计，无需通过高精度要求的标校单元和阵面位置标定即可实现高精度阵面校准。解决了相控阵雷达中场校准依赖性高、操作难度大的问题，大幅提升相控阵天线标校效率。
主权项：1.一种相控阵天线系统级快速标校方法，其特征在于包括以下步骤：S1：构建中场标校环境，在雷达天线阵面前放置标校单元，对天线阵面的雷达单元的位置，进行精确标定，得到所有雷达单元的位置坐标，其中天线阵面中第i行第j列的雷达单元的位置坐标表示为xij，yij，zij；xij、yij、zij分别表示天线阵面中第i行第j列的雷达单元的x轴位置坐标、y轴位置坐标、z轴位置坐标；S2：标校单元对天线阵面的所有雷达单元检测相位，其中天线阵面中第i行第j列的雷达单元的相位表示为由所有雷达单元的相位组成相位分布矩阵S3：对进行解缠绕二维展开得到相对解缠相位矩阵在中包含天线阵面中所有雷达单元的相对解缠相位，其中天线阵面中第i行第j列的雷达单元的相对解缠相位表示为S4：对以下公式进行拟合，得到标校单元的位置坐标xb，yb，zb，以及偏移距离d，拟合公式为：. 其中，λ为天线阵面的雷达波长；公式中的xb、yb、zb、d为待拟合求出的系数；其中X、Y、Z分别表示雷达单元的相对解缠相位、x轴位置坐标、y轴位置坐标、z轴位置坐标；S5：根据标校单元的位置坐标xb，yb，zb，计算各个雷达单元的待修正相位，对相应的雷达单元相位进行修正。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种相控阵天线系统级快速标校方法
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