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申请/专利权人：川能电子有限公司
摘要：一种带隙参考电路及其测试及校正方法。带隙参考电路包括：多个双极性晶体管；多个电阻；多个开关；及回馈控制电路，由放大器及多个电阻中部分电阻所构成；多个双极性晶体管、多个电阻及回馈控制电路产生正温度系数信号与负温度系数信号，并根据两者的线性叠加以产生带隙参考电压；带隙参考电路具有影响带隙参考电压的温度系数及或偏移电压的多个变异参数，且在校正程序下，控制多个开关以配置带隙参考电路操作于对应的校正组态，且于对应的校正组态中，对第一部分变异参数分别量测，以分别校正第一部分变异参数的每一者的变异量对带隙参考电压的温度系数或偏移电压的影响。
主权项：1.一种带隙参考电路，包含：多个双极性晶体管，包括一第一双极性晶体管及一第二双极性晶体管，其中该第一双极性晶体管与该第二双极性晶体管以相异的电流密度偏置；多个阻抗元件，其中该多个阻抗元件为同型的阻抗元件；多个开关；以及一回馈控制电路，由一放大器及该多个阻抗元件中部分阻抗元件所构成，该放大器的一第一输入端耦接该第一双极性晶体管，该放大器的一第二输入端通过该部分阻抗元件的其中之一耦接至该第二双极性晶体管；其中该多个双极性晶体管、该多个阻抗元件及该回馈控制电路用以产生一正温度系数信号与一负温度系数信号，并根据该正温度系数信号与该负温度系数信号的线性叠加产生一带隙参考电压；其中该带隙参考电路具有影响该带隙参考电压的一温度系数及或一偏移电压的多个变异参数，其中该带隙参考电路在一校正程序下，控制该多个开关以配置该带隙参考电路操作于对应的多个校正组态，且于对应的该多个校正组态中，对该多个变异参数中的第一部分变异参数分别量测，以分别校正该第一部分变异参数的每一者的变异量对该带隙参考电压的该温度系数或该偏移电压的影响，其中该偏移电压是指该带隙参考电压中，与温度无关的偏移成分。
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百度查询： 川能电子有限公司 带隙参考电路及其测试及校正方法
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