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一种基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路 

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申请/专利权人:浙江翠展微电子有限公司

摘要:一种基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路。所述基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路包括检测机接口单元,模块单元,以及辅助单元。所述检测机接口单元包括电压控制模块,以及电流控制模块。IGBT管的集电极、栅极、发射极分别与所述电压控制模块和所述电流控制模块连接。所述辅助单元包括DPST继电器组件,以及SPDT继电器组件。所述DPST继电器组件的输入端与IGBT管的集电极和栅极连接,所述SPDT继电器组件的输出端与IGBT管的集电极和发射极连接,输入端和所述电压控制模块连接。通过控制对应电压接口来控制继电器切换电路,从而使对应的IGBT管单独导通,从而实现通过测试机单独检测的功能。

主权项:1.一种基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路,其特征在于:所述基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路包括一个检测机接口单元,一个与所述检测机接口单元电性连接的模块单元,一个与所述检测机接口单元和所述模块单元电性连接的辅助单元,所述检测机接口单元包括电压控制模块,以及电流控制模块,所述电压控制模块包括二十四个电压接口,所述电流控制模块包括二十四个电流接口,所述模块单元包括IGBT管Q1,IGBT管Q2,IGBT管Q3,IGBT管Q4,IGBT管Q5,IGBT管Q6,二极管D1,二极管D2,二极管D3,二极管D4,二极管D5,以及二极管D6,每一个所述IGBT管的集电极、栅极、发射极分别与所述电压控制模块和所述电流控制模块连接,所述辅助单元包括第一继电器电源BAT2,第二继电器电源BAT3,DPST继电器组件,以及SPDT继电器组件,所述DPST继电器组件的输出端与所述第二继电器电源BAT3连接,所述DPST继电器组件的输入端与所述模块单元的多个IGBT管的集电极和栅极连接,所述DPST继电器组件的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和电压控制模块连接,所述SPDT继电器组件的输出端与所述模块单元的IGBT管的集电极和发射极连接,输入端和所述电压控制模块连接,所述SPDT继电器组件的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和所述电压控制模块连接。

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