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申请/专利权人：长沙理工大学;微感科技(南通)有限公司
摘要：本发明公开了用于多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的聚类校正方法、系统和介质，方法为：根据多基线干涉合成孔径雷达的参数，计算每幅干涉图中每个像素对应的整周模糊数，从而得到每个像素的模糊矢量；将模糊矢量相同的像素聚为同一类；对干涉图中的像素进行类校正：若干涉图尺寸小于预设尺寸值，则对所有像素，均按照像素的扩展区域内的最大类别进行类校正；若干涉图尺寸超过预设尺寸值，则先根据像素的扩展区域的密度判断该像素是否需要校正，然后对需要校正的像素，按照像素的扩展区域内的最大类别进行类校正。本发明可以提高现有多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的像素聚类结果的准确性和有效性，进而提高解缠相位的精度。
主权项：1.一种用于多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的聚类校正方法，其特征在于，包括：根据多基线干涉合成孔径雷达的参数，计算每幅干涉图中每个像素对应的整周模糊数；记第i条基线对应的第i幅干涉图中第s个像素对应的整周模糊数为kis，则第s个像素的模糊矢量表示为[k1s,k2s,…,kMs]，M为基线的数量；根据各像素对应的模糊矢量，对所有像素进行聚类：模糊矢量相同的像素属于同一类；对干涉图中的像素进行类校正：若干涉图尺寸小于预设尺寸值，则对所有像素，均按照像素的扩展区域内的最大类别进行类校正；若干涉图尺寸超过预设尺寸值，则先根据像素的扩展区域的密度判断该像素是否需要校正，然后对需要校正的像素，按照像素的扩展区域内的最大类别进行类校正；对像素按照像素扩展区域内的最大类别进行类校正具体是指：将当前像素的类别修改为当前像素扩展区域内的最大类别；根据像素的扩展区域的密度判断该像素是否需要校正的方法为：若像素的扩展区域的密度大于预设密度阈值，则当前像素的类别准确，记为核心像素，即为不需要校正的像素；否则，当前像素的类别错误，记为非核心像素，即为需要校正的像素。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长沙理工大学 微感科技(南通)有限公司 用于多基线干涉合成孔径雷达相位解缠的聚类校正方法、系统和介质
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