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阻容耦合快速开启的可控硅静电防护器件及其制作方法 

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申请/专利权人:湖南静芯微电子技术有限公司

摘要:本发明公开了一种阻容耦合快速开启的可控硅静电防护器件,包括P型衬底;P型衬底中设有N型埋层;N型埋层上方为第一N型深阱、第二N型深阱和P型衬底外延层P‑EPI;第二N型深阱上有N阱;P型衬底外延层P‑EPI上有第二P阱;第二P阱内设有第二P+注入区和内嵌N型MOS管,第N阱内设有横跨第二P阱与N阱的第二N+注入区、第三P+注入区与第三N+注入区;第一N型深阱、第二N型深阱、N阱与N型埋层构成N型隔离带;第一P+注入区、第二P+注入区、第四P+注入区和第一N+注入区连接在一起并作为器件的阴极,第三P+注入区与第三N+注入区Ⅱ连接在一起并作为器件的阳极。

主权项:1.一种阻容耦合快速开启的可控硅静电防护器件,其特征在于,包括P型衬底;所述P型衬底中设有N型埋层;所述N型埋层上方为第一N型深阱、第二N型深阱和P型衬底外延层P-EPI;所述第二N型深阱上有N阱;所述P型衬底外延层P-EPI上有第二P阱;所述第二P阱内设有第二P+注入区和内嵌N型MOS管,其中,所述内嵌N型MOS管包括第一N+注入区、第二N+注入区与栅区,所述第二N+注入区横跨所述第二P阱与所述N阱;所述内嵌N型MOS管的源漏两端,所述第一N+注入区、所述第二N+注入区表面有硅化物阻挡层;第二N+注入区横跨所述第二P阱与所述N阱,所述N阱内还设有第三P+注入区与第三N+注入区;所述第一N型深阱、所述第二N型深阱、所述N阱与所述N型埋层构成N型隔离带;第一P阱、第一P+注入区、第三P阱、第四P+注入区为常规保护环;在所述P型衬底上,与N阱同深度的地方,生成第一P阱、第二P阱、第三P阱;所述第一P+注入区、所述第二P+注入区、所述第四P+注入区和所述第一N+注入区连接在一起并作为器件的阴极,所述第三P+注入区与所述第三N+注入区Ⅱ连接在一起并作为器件的阳极;所述栅区位于所述第一N+注入区与所述第二N+注入区之间;所述栅区与所述阴极之间包括电阻R,所述栅区与所述阳极之间包括电容C;所述第一N+注入区和所述第二N+注入区之间由所述栅区隔开,每一所述注入区之间都由场氧隔离区隔开,从左到右依次为第一场氧隔离区、第二场氧隔离区、第三场氧隔离区、第四场氧隔离区和第五场氧隔离区。

全文数据:

权利要求:

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