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申请/专利权人：深圳金美新材料科技有限公司
摘要：本实用新型公开了一种导电金属薄膜方阻检测设备，包括机架、检测组件以及至少两组牵引辊，两组牵引辊转动设置在机架上并通过电机驱动其转动，两组牵引辊分别与导电金属薄膜的两侧面接触，检测组件包括方阻检测仪和驱动元件，方阻检测仪固定设置在驱动元件上，方阻检测仪设有探针，检测组件分别设置在其中两根牵引辊的侧面，使得检测组件能够对导电金属薄膜的两侧面进行方阻检测。本实用新型通过控制驱动元件驱动方阻检测仪向牵引辊靠近或远离，使探针与导电金属薄膜接触读取方阻数据，并且能够同时实现对导电金属薄膜顶面和底面的方阻检测，提高了检测效率，降低了劳动强度，具有高效、准确，方便快捷的特点。
主权项：1.一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于，包括机架、检测组件以及至少两组牵引辊，两组所述牵引辊转动设置在所述机架上并通过电机驱动其转动，两组牵引辊分别与导电金属薄膜的两侧面接触，所述检测组件包括方阻检测仪和驱动元件，所述方阻检测仪固定设置在所述驱动元件上，所述方阻检测仪设置有探针，所述驱动元件用于驱动所述方阻检测仪前后运动，使得所述探针与导电金属薄膜的侧面接触，所述检测组件分别设置在其中两根牵引辊的侧面，使得检测组件能够对导电金属薄膜的两侧面进行方阻检测。
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权利要求：
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