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申请/专利权人：苏州和林微纳科技股份有限公司
摘要：本实用新型公开了一种弹片测试探针，包括探针本体，所述探针本体呈片状弹片结构，所述探针本体包括中间支座段、上悬臂、上接触段、下悬臂以及下接触段；所述上悬臂、下悬臂分别位于中间支座段同一侧的上、下端，所述上接触段设置在上悬臂的上端面，所述下接触段设置在下悬臂的下端面，所述上接触段、下接触段的端部具有接触针；还公开了一种芯片测试座，包括测试座以及两个前述的弹片测试探针。本实用新型具有交期短、性能稳定可靠、导通性好、电性能稳定、适用于大电流、寿命久的优点。
主权项：1.一种弹片测试探针，包括探针本体，其特征在于：所述探针本体呈片状弹片结构，所述探针本体包括中间支座段1、上悬臂2、上接触段3、下悬臂4以及下接触段5；所述上悬臂2、下悬臂4分别位于中间支座段1同一侧的上、下端，所述上接触段3设置在上悬臂2的上端面，所述下接触段5设置在下悬臂4的下端面，所述上接触段3、下接触段5的端部具有接触针6。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州和林微纳科技股份有限公司 弹片测试探针及芯片测试座
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