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申请/专利权人：浙江大学
摘要：本发明公开了一种浑浊介质中基于扫频光学相干层析技术的超深度三维成像装置及方法。本发明利用样品纵深方向的并行探测与横向场分布的扫描探测相结合的三维散射场快速探测方法，获得深度分辨的反射矩阵，提供超深度成像所需的深度范围。本发明通过在系统中引入准共路参考臂来获取并补偿扫描探测固有的帧内相位波动，并采用对残留帧间相位漂移不敏感的矩阵方法实现图像重建。证明剩余未补偿的帧间直流漂移和统一的相位分布误差对图像重建无影响，本发明实现的超深度三维成像125微米×125微米×4毫米的总测量时间约为5分钟，与时域矩阵方法相比有了显著的飞跃。
主权项：1.一种浑浊介质中基于扫频光学相干层析技术的超深度三维成像装置，其特征在于，包括依次相连的高速扫频光源、马赫-曾德尔干涉仪时钟箱、耦合器A、包括样品臂和参考臂的干涉仪、耦合器B、平衡探测器和用于处理数据的计算机；所述的参考臂包括准直透镜A和聚焦透镜A；所述的样品臂包括依次相连的准直透镜B、分束镜、聚焦透镜B、样品，以及分束镜一侧依次相连的聚焦透镜C和参考反射镜、另一侧依次相连的双轴振镜A和准直透镜C；所述的样品臂的输入端通过准直透镜B与耦合器A相连，输出端通过准直透镜C与耦合器B相连，所述的样品臂还包括设置于准直透镜B和分束镜之间的双轴振镜B或还包括设置于样品底面，支撑样品的二轴位移平台。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江大学 一种浑浊介质中基于扫频光学相干层析技术的超深度三维成像装置及方法
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