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基于层次分析法的科技馆评价方法及系统 

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申请/专利权人:浪潮软件科技有限公司

摘要:本发明公开了基于层次分析法的科技馆评价方法及系统,属于数据分析技术领域,要解决的技术问题为如何对科技馆进行全方位、多角度、定量化评价。包括如下步骤:构建包括目标层、准则层和指标层的多层评价模型;依次对准则层内任意两个评价指标进行比对,根据两个评价指标的相对重要性进行标度值赋值,形成全部评价指标的成对比较矩阵;基于成对比较矩阵计算准则层内各评价指标的权重向量,基于权重向量形成权重分配图;基于每个评价指标的实际值以及权重,计算科技馆的综合得分。

主权项:1.一种基于层次分析法的科技馆评价方法,其特征在于,包括如下步骤:对于科技馆的评价,构建包括目标层、准则层和指标层的多层评价模型,目标层定义所述多层评价模型用于科技馆综合评价,准则层定义有对于科技馆的多个评价维度,指标层用于定义每个准则层下的多个评价指标;对于每个准则层,依次对准则层内任意两个评价指标进行比对,根据两个评价指标的相对重要性进行标度值赋值,形成全部评价指标的成对比较矩阵;基于成对比较矩阵计算准则层内各评价指标的权重向量,基于权重向量形成权重分配图;基于每个评价指标的实际值以及权重,计算科技馆的综合得分。

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