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申请/专利权人：深圳市中兴微电子技术有限公司
摘要：本申请提出一种传送时长的评估方法、电子设备和存储介质，涉及可靠性评估技术领域。方法包括：确定待测芯片所处的实际原始区域的形状、待测芯片在老化设备上的实际目标区域的形状、待测芯片在实际原始区域中的起始位置点和待测芯片在老化设备上的目标位置点；将待测芯片所处的实际原始区域的形状、待测芯片在老化设备上的实际目标区域的形状、待测芯片在实际原始区域中的起始位置点和待测芯片在老化设备上的目标位置点输入预设评估模型中，获得待测芯片的传送时长；其中，预设评估模型为基于样本原始区域的形状、样本目标区域的形状、以及样本点在样本原始区域和样本目标区域之间的移动时长确定的模型。提高对芯片传送时长的评估准确性。
主权项：1.一种传送时长的评估方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测芯片所处的实际原始区域的形状、所述待测芯片在老化设备上的实际目标区域的形状、所述待测芯片在所述实际原始区域中的起始位置点、以及所述待测芯片在所述老化设备上的目标位置点；将所述待测芯片所处的实际原始区域的形状、所述待测芯片在老化设备上的实际目标区域的形状、所述待测芯片在所述实际原始区域中的起始位置点、以及所述待测芯片在所述老化设备上的目标位置点输入预设评估模型中，获得所述待测芯片在所述实际原始区域和所述实际目标区域之间的传送时长；其中，所述预设评估模型为基于样本原始区域的形状、样本目标区域的形状、以及样本点在所述样本原始区域和所述样本目标区域之间的移动时长确定的模型。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市中兴微电子技术有限公司 传送时长的评估方法、电子设备和存储介质
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