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确定分析物的对映异构体纯度的方法 

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申请/专利权人:英国质谱公司

摘要:本发明公开了一种确定分析物的对映异构体纯度的方法,该方法包括:电离该分析物以形成二聚体离子;通过离子迁移率分离该分析物的不同二聚体的离子;检测对应于一种或多种第一二聚体的离子的第一离子迁移率峰和检测对应于一种或多种第二二聚体的离子的第二离子迁移率峰;以及由该第一离子迁移率峰的峰面积与该第二离子迁移率峰的峰面积的比率确定所述分析物的该对映异构体纯度。

主权项:1.一种确定分析物的对映异构体纯度的方法,所述方法包括:电离所述分析物以形成二聚体离子;通过离子迁移率分离所述分析物的不同二聚体的离子;检测对应于一种或多种第一二聚体的离子的第一离子迁移率峰和检测对应于一种或多种第二二聚体的离子的第二离子迁移率峰;以及由所述第一离子迁移率峰的峰面积与所述第二离子迁移率峰的峰面积的比率确定所述分析物的所述对映异构体纯度。

全文数据:

权利要求:

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