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申请/专利权人：昂坤视觉(北京)科技有限公司;杭州昂坤半导体设备有限公司
摘要：本发明提供了一种针对线阵AOI检测系统采图的校正方法及系统，该方法通过获取标准图形片，及其中预设区域的目标图像，确定预设区域中各目标图像的标记点的实际坐标；根据标准尺寸的量块在相机成像图像占的像素数，得到标准光学分辨率；采用相机对标准图形片进行成像，确定各目标图像对应的像素数，并将像素数与标准光学分辨率相乘，得到预设区域中各目标图像的标记点的理论坐标；根据实际坐标和理论坐标，拟合求出校正方程的系数；将系数代入方程求得拟合坐标，根据残差，分析拟合方程的精确度，并根据精确度，确定目标拟合方程，其中，残差为理论坐标减去拟合坐标；采用目标拟合方程，对后续图像进行校准，有效对整体图像进行校正。
主权项：1.一种针对线阵AOI检测系统采图的校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取标准图形片，并获取所述标准图形片中预设区域的目标图像，确定预设区域中各目标图像的标记点的实际坐标；根据标准尺寸的量块在相机成像图像占的像素数，得到标准光学分辨率；采用相机对标准图形片进行成像，确定各目标图像对应的像素数，并将所述像素数与所述标准光学分辨率相乘，得到预设区域中各目标图像的标记点的理论坐标；根据所述实际坐标和所述理论坐标，拟合求出校正方程的系数；将所述系数代入方程求得拟合坐标，根据残差，分析拟合方程的精确度，并根据所述精确度，确定目标拟合方程，其中，所述残差为所述理论坐标减去所述拟合坐标；采用所述目标拟合方程，对后续线阵AOI检测系统采集到的图像进行校准。
全文数据：
权利要求：
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