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光检测装置和测距装置 

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申请/专利权人:索尼半导体解决方案公司

摘要:本发明提供了一种光检测装置和测距装置。所述光检测装置包括像素阵列、半导体基板和像素隔离部。所述像素隔离部配置在所述半导体基板内,并且在平面图中围绕所述像素阵列的单位像素。多个单位像素中的第一单位像素包括光接收部、第一电极和第二电极,所述光接收部在平面图中配置在由围绕所述第一单位像素的所述像素隔离部形成的区域内,所述第一电极在平面图中配置在所述的由围绕所述第一单位像素的所述像素隔离部形成的区域内,并且所述第二电极配置在所述光接收部的区域内。所述第一电极和所述第二电极沿着相对于所述像素阵列的单位像素的行和列倾斜的线配置。

主权项:1.一种光检测装置,包括:像素阵列,其中所述像素阵列包括多个单位像素,并且其中所述单位像素在平面图中以多行和多列配置;半导体基板;像素隔离部,其中所述像素隔离部配置在所述半导体基板内,其中所述像素隔离部在平面图中围绕所述单位像素,并且其中所述多个单位像素中的第一单位像素包括:光接收部,其中所述光接收部在平面图中配置在由围绕所述第一单位像素的所述像素隔离部形成的区域内,并且其中所述光接收部配置在所述半导体基板内;第一电极,其中所述第一电极在平面图中配置在所述的由围绕所述第一单位像素的所述像素隔离部形成的区域内;和第二电极,其中所述第二电极在平面图中配置在所述第一单位像素的光接收部的区域内,并且其中所述第一电极和所述第二电极沿着相对于所述像素阵列的行和列倾斜的线配置。

全文数据:

权利要求:

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