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申请/专利权人：广东工业大学
摘要：本发明涉及计算机视觉的技术领域，提出一种基于光度学的缺陷检测分析方法及系统，包括以下步骤：在若干个光照方向下采集缺陷检测目标的图像；基于光度立体法计算图像的反照率，生成反照率图；将反照率图中反照率低于预设阈值的点视为缺陷点，利用阈值分割法在反照率图上添加缺陷区域标记，并利用边缘检测法，在反照率图上添加缺陷边缘标记；考虑缺陷区域标记和缺陷边缘标记的边界约束，以最小化反照率图的数据保真度、最小化缺陷边缘标记噪声，以及最小化缺陷区域标记噪声为目标，构建用于校正缺陷区域标记和缺陷边缘标记的标记优化模型；将带有缺陷区域标记和缺陷边缘标记的反照率图输入标记优化模型，标记优化模型输出经缺陷区域标记校正和缺陷边缘标记校正的反照率图。
主权项：1.一种基于光度学的缺陷检测分析方法，其特征在于，包括以下步骤：在若干个光照方向下采集缺陷检测目标的图像；基于光度立体法计算所述图像的反照率，生成反照率图；将所述反照率图中反照率低于预设阈值的点视为缺陷点，利用阈值分割法在反照率图上添加缺陷区域标记，并利用边缘检测法，在反照率图上添加缺陷边缘标记；考虑缺陷区域标记和缺陷边缘标记的边界约束，以最小化反照率图的数据保真度、最小化缺陷边缘标记噪声，以及最小化缺陷区域标记噪声为目标，构建用于校正缺陷区域标记和缺陷边缘标记的标记优化模型；将带有缺陷区域标记和缺陷边缘标记的反照率图输入所述标记优化模型，所述标记优化模型输出经缺陷区域标记校正和缺陷边缘标记校正的反照率图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广东工业大学 一种基于光度学的缺陷检测分析方法及系统
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