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光学分析系统及光学分析方法 

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申请/专利权人:横河电机株式会社

摘要:本公开所涉及的光学分析系统1具备:照射部11,在合成第一原料A和第二原料B而得到产物AB的化学反应系统30中,向合成开始前的第一原料A和第二原料B分别照射照射光L1,并且向合成开始后的混合物C照射照射光L1;检测部12,检测包含与第一原料A、第二原料B及混合物C各自的分光光谱有关的信息的测定光L2;以及运算部22,计算第一原料A、第二原料B及混合物C各自的分光光谱,并计算产物AB的分光光谱。

主权项:1.一种光学分析系统,具备:照射部,具有光源、第一导光部件、第二导光部件和第三导光部件,在合成第一原料和第二原料而得到产物的化学反应系统中,所述光源经由所述第一导光部件向合成开始前的所述第一原料照射第一照射光,经由所述第二导光部件向合成开始前的所述第二原料照射第二照射光,并且经由所述第三导光部件向含有所述第一原料、所述第二原料和所述产物的合成开始后的混合物照射第三照射光;检测部,具有光检测器、第四导光部件、第五导光部件及第六导光部件,所述光检测器经由所述第四导光部件检测包含与所述第一原料的分光光谱有关的信息的第一测定光,经由所述第五导光部件检测包含与所述第二原料的分光光谱有关的信息的第二测定光,经由所述第六导光部件检测包含与所述混合物的分光光谱有关的信息的第三测定光,所述第一测定光是基于由所述照射部照射的所述第一照射光的第一测定光,所述第二测定光是基于由所述照射部照射的所述第二照射光的第二测定光,所述第三测定光是基于由所述照射部照射的所述第三照射光的第三测定光;以及运算部,基于与由所述检测部检测出的所述第一测定光、所述第二测定光及所述第三测定光有关的测定数据,计算所述第一原料、所述第二原料及所述混合物各自的分光光谱,并基于所述第一原料、所述第二原料及所述混合物的分光光谱来计算所述产物的分光光谱,所述化学反应系统包括所述第一原料、所述第二原料及所述混合物分别在流通式化学反应管的内部流动的连续流通式合成反应系统,所述第一导光部件、所述第二导光部件及所述第三导光部件将从所述光源照射的所述第一照射光、所述第二照射光及所述第三照射光分别引导到所述流通式化学反应管的内部,所述第四导光部件、所述第五导光部件及所述第六导光部件将透过所述流通式化学反应管的内部的所述第一测定光、所述第二测定光及所述第三测定光分别引导至所述光检测器。

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