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申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司
摘要:本发明公开一种电阻电容校正方法及电阻电容校正电路。方法包括设置电阻电容校正电路;计算输入时钟信号的输入周期与初始周期的比例,并配置处理电路执行校正程序,包括:根据比例调整第一电流源的第一电流、第二电流源的第二电流及输入周期的调整倍率中的一者或多者,以满足指定电阻‑电容乘积,或是调整该指定电阻‑电容乘积中的电阻值及电容值中的一者或多者;控制第二电流源对待校正电容充电;以及判断比较信号是否指示第一电压与第二电压满足校正完成条件,若否,则调整待校正电阻及待校正电容中的一者或多者,直到比较信号指示第一电压与第二电压满足校正完成条件。
主权项:1.一种电阻电容校正方法,适用于一待校正电阻及一待校正电容,所述的电阻电容校正方法包括:设置一电阻电容校正电路,其包括:一第一电流源,通过一第一节点连接于该待校正电阻,且该待校正电阻接地;一第二电流源,通过一第二节点连接于该待校正电容,且该待校正电容接地;一比较器,将该第一节点的一第一电压与该第二节点的一第二电压进行比较,并依据比较结果对应产生一比较信号;及一处理电路,接收一输入时钟信号及该比较信号;根据该输入时钟信号的一输入周期与一初始周期的比例配置该处理电路执行一校正程序,包括:根据该比例调整该第一电流源的一第一电流、该第二电流源的一第二电流及该输入周期的一调整倍率中的一者或多者,以满足一指定电阻-电容乘积,或是调整该指定电阻-电容乘积中的电阻值及电容值中的一者或多者,其中,该初始周期与该指定电阻-电容乘积相关联;配置该处理电路控制该第一电流源对该待校正电容充电;以及配置该处理电路判断该比较信号是否指示该第一电压与该第二电压满足一校正完成条件,若否,则依据该比较信号调整该待校正电阻及该待校正电容中的一者或多者,并重复控制该第二电流源对该待校正电容充电,直到该比较信号指示该第一电压与该第二电压满足该校正完成条件。
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