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申请/专利权人：沛顿科技(深圳)有限公司
摘要：本发明属于芯片测试板结构设计领域，具体为一种多产品类型芯片集成一体化测试板，包括测试主板，测试主板的表面设置有四个不同的测试区域，测试主板表面的四个测试区域内均固定有多个有序分布的测试板Pad，测试主板的背面对应每个测试区域处均开设有Pin针区域，Pin针区域内设置有多个均布的Pin针模块，Pin针模块包括固定壳和Pin针，该种设计可以运用于工程测试验证，将多个产品类型的芯片集成于一块芯片测试板上进行测试，该种集成化设计减少了因为产品不同而进行频繁更换测试板的繁杂操作，提高了员工的工作效率，降低了因为频繁更换插拔测试板而导致测试板损坏的风险。
主权项：1.一种多产品类型芯片集成一体化测试板，包括测试主板1，其特征在于：所述测试主板1的表面设置有四个不同的测试区域，所述测试主板1表面的四个测试区域内均固定有多个有序分布的测试板Pad12；所述测试主板1的背面对应每个测试区域处均开设有Pin针区域13，所述Pin针区域13内设置有多个均布的Pin针模块2。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 沛顿科技(深圳)有限公司 一种多产品类型芯片集成一体化测试板
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