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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

摘要：本申请公开了一种基于单经纬仪实现基准测量和转换的方法，运用于光电测试技术领域，其方法包括：在第一、第二观测点，分别获取平面镜的法向量以及基准向量和待测向量；根据第一基准向量和第一待测向量在第一坐标系中的转换得到两组系数组；同样，根据第二基准向量和第二待测向量在第二坐标系中的转换得到另外两组系数组；基于这四组系数组，得出待测向量在基准坐标系中的转换关系，进而确定待测坐标系与基准坐标系的转换关系；通过使用单经纬仪实现了精准的空间向量测量和坐标系转换。

主权项：1.一种基于单经纬仪实现基准测量和转换的方法，其特征在于，包括：在第一观测点建立第一经纬仪坐标系，获取第一平面镜和第二平面镜在所述第一观测点的第一法向量和第二法向量；获取第一基准面和第一待测面在所述第一观测点的第一基准向量和第一待测向量；在第二观测点建立第二经纬仪坐标系，获取所述第一平面镜和所述第二平面镜在第二观测点的第三法向量和第四法向量；获取第二基准面和第二待测面在所述第二观测点的第二基准向量和第二待测向量；以所述第一观测点的所述第一经纬坐标系的原点为第一原点，分别以所述第一法向量、所述第二法向量为轴建立第一坐标系；以所述第二观测点的所述第二经纬坐标系的原点为第二原点，分别以所述第三法向量、所述第四法向量为轴建立第二坐标系；得到所述第一经纬仪坐标系、所述第二经纬仪坐标系分别与所述第一坐标系、所述第二坐标系的转换关系，以及所述第一坐标系与所述第二坐标系的转换关系；以所述第一基准面和所述第二基准面交线上预设的一点为基准原点，以所述第一基准向量、所述第二基准向量为轴，建立基准坐标系；以所述第一待测面和所述第二待测面交线上预设的一点为待测原点，以所述第一待测向量、所述第二待测向量为轴，建立待测坐标系；基于所述第一基准面的第一基准向量和所述的第一待测向量在所述第一坐标系中的转换，得到第一系数组和第二系数组；基于所述第二基准面的第二基准向量和第二待测向量在所述第二坐标系中的转换，得到第三系数组和第四系数组；基于所述第一系数组、所述第二系数组、所述第三系数组和所述第四系数组，得到所述第一待测向量、所述第二待测向量在所述基准坐标系的转换关系；进而得到所述待测坐标系与所述基准坐标系的转换关系。

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