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申请/专利权人：中国工程物理研究院应用电子学研究所
摘要：本发明属于高能激光远场光束质量测量领域，具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪，包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统；所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束，所述缩束器用于将光束转换光斑，所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上，所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息，所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理，并计算出待测光的远场β值，解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响，导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。
主权项：1.一种基于HTM的远场光束质量β测量仪，其特征在于：包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统；所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束，所述缩束器用于将光束转换光斑，所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上，所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息，所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理，并计算出待测光的远场β值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国工程物理研究院应用电子学研究所 一种基于HTM的远场光束质量β测量仪
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