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申请/专利权人:太仓市同维电子有限公司
摘要:本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体为一种验证DCDC负载调整率的测试电路及夹具,所述测试电路包括:DC芯片,第一端子J1、第二端子J2,滤波电容C1、滤波电容C2、滤波电容C3及滤波电容C4,分压电阻R1、分压电阻R2及分压电阻R3和电感L1;本实用新型的测试电路及测试夹具结构简单,实施容易,前端供一个稳定的直流电压源,通过调节后端连接的电子负载仪的载荷电流,来验证该DCDC电路的负载调整率,能够在产品设计阶段得到DC芯片的负载调整率等参数,使得该芯片的到最大化利用,适用于产品研发阶段,线路简单,器件较少,能重复利用,可提高研发测试的效率。
主权项:1.一种验证DCDC负载调整率的测试电路,其特征在于,所述测试电路包括:DC芯片,第一端子J1、第二端子J2,滤波电容C1、滤波电容C2、滤波电容C3及滤波电容C4,分压电阻R1、分压电阻R2及分压电阻R3和电感L1;所述DC芯片有六个针脚,1针脚与第一端子J1相连,2针脚与1针脚相连,3针脚接地,4针脚与5针脚相连,5针脚与6针脚相连;所述滤波电容C1与滤波电容C2的一端接于1针脚与第一端子J1之间,另一端接地;所述滤波电容C3接于5针脚与6针脚之间,所述滤波电容C4的一端接在4针脚,且与所述分压电阻R2和分压电阻R3的连线相接,另一端接在5针脚;所述滤波电容C5的一端与所述第二端子J2相接,另一端接地;所述分压电阻R1串接在1针脚与2针脚之间;所述分压电阻R2与分压电阻R3之间串联,且所述分压电阻R2与分压电阻R3中间的连线与4针脚相接,所述分压电阻R2的另一端连接5针脚,所述分压电阻R3的另一端接地,所述电感L1接在5针脚与所述分压电阻R2之间。
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